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5962-9314801Q2X

更新时间： 2024-01-03 22:10:15
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 信息通信管理输出元件逻辑集成电路触发器
页数 文件大小 规格书
10页 188K
描述
ABT SERIES, POSITIVE EDGE TRIGGERED D FLIP-FLOP, TRUE OUTPUT, CQCC20, CERAMIC, LCC-20

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5962-9314801Q2X 技术参数

生命周期：Active零件包装代码：QLCC
包装说明：QCCN,针数：20
Reach Compliance Code：compliantHTS代码：8542.39.00.01
风险等级：5.25系列：ABT
JESD-30 代码：S-CQCC-N20长度：8.89 mm
负载电容（CL）：50 pF逻辑集成电路类型：D FLIP-FLOP
最大频率@ Nom-Sup：150000000 Hz最大I（ol）：0.048 A
位数：8功能数量：1
端子数量：20最高工作温度：125 °C
最低工作温度：-55 °C输出极性：TRUE
封装主体材料：CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED封装代码：QCCN
封装形状：SQUARE封装形式：CHIP CARRIER
峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIEDProp。Delay @ Nom-Sup：7.6 ns
传播延迟（tpd）：7.6 ns认证状态：Qualified
筛选级别：MIL-PRF-38535 Class Q座面最大高度：2.03 mm
最大供电电压 (Vsup)：5.5 V最小供电电压 (Vsup)：4.5 V
标称供电电压 (Vsup)：5 V表面贴装：YES
技术：BICMOS温度等级：MILITARY
端子形式：NO LEAD端子节距：1.27 mm
端子位置：QUAD处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED
触发器类型：POSITIVE EDGE宽度：8.89 mm
最小 fmax：150 MHzBase Number Matches：1

5962-9314801Q2X 数据手册

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Absolute Maximum Ratings (Note 1)  
DC Latchup Source Current  
(Across Comm Operating Range)  
Over Voltage Latchup  
−500 mA  
Storage Temperature  
Ambient Temperature under Bias  
Junction Temperature under Bias  
Ceramic  
−65˚C to +150˚C  
VCC + 4.5V  
−55˚C to +125˚C  
−55˚C to +175˚C  
Recommended Operating  
Conditions  
Free Air Ambient Temperature  
Military  
VCC Pin Potential to  
Ground Pin  
−0.5V to +7.0V  
−0.5V to +7.0V  
Input Voltage (Note 2)  
Input Current (Note 2)  
Voltage Applied to Any Output  
in the Disabled or  
−55˚C to +125˚C  
−30 mA to +5.0 mA  
Supply Voltage  
Military  
+4.5V to +5.5V  
(∆V/∆t)  
Minimum Input Edge Rate  
Data Input  
Power-Off State  
−0.5V to +4.75V  
−0.5V to VCC  
50 mV/ns  
20 mV/ns  
in the HIGH State  
Enable Input  
Current Applied to Output  
in LOW State (Max)  
Twice the rated IOL (mA)  
DC Electrical Characteristics  
Symbol  
Parameter  
ABT377  
Typ  
Units VCC  
Conditions  
Min  
Max  
VIH  
Input HIGH Voltage  
2.0  
V
V
Recognized HIGH Signal  
Recognized LOW Signal  
VIL  
Input LOW Voltage  
0.8  
=
Min IIN −18 mA  
VCD  
VOH  
Input Clamp Diode Voltage  
Output HIGH Voltage  
−1.2  
V
V
=
Min IOH −3 mA  
54ABT  
54ABT  
54ABT  
2.5  
2.0  
=
IOH −24 mA  
=
Min IOL 48 mA  
VOL  
IIH  
Output LOW Voltage  
Input HIGH Current  
0.55  
V
=
Max VIN 2.7V (Note 4)  
5
5
7
µA  
=
VIN VCC  
=
Max VIN 7.0V  
IBVI  
Input HIGH Current  
Breakdown Test  
µA  
µA  
V
=
Max VIN 0.5V (Note 4)  
IIL  
Input LOW Current  
−5  
−5  
=
VIN 0.0V  
=
VID  
Input Leakage Test  
4.75  
0.0  
IID 1.9 µA  
All Other Pins Grounded  
=
Max VOUT 0.0V  
IOS  
Output Short-Circuit Current  
Output High Leakage Current  
Power Supply Current  
−100  
−275  
50  
mA  
µA  
=
ICEX  
ICCH  
ICCL  
ICCT  
Max VOUT VCC  
50  
µA  
Max All Outputs HIGH  
Max All Outputs LOW  
Power Supply Current  
30  
mA  
=
VI VCC − 2.1V  
Maximum ICC/Input  
Outputs Enabled  
No Load  
=
1.5  
0.3  
mA  
Max Data Input VI VCC − 2.1V  
All Others at VCC or GND  
ICCD  
Dynamic ICC  
mA/ Max Outputs Open (Note 3)  
MHz One bit Toggling, 50% Duty Cycle  
Note 1: Absolute maximum ratings are values beyond which the device may be damaged or have its useful life impaired. Functional operation under these conditions  
is not implied.  
Note 2: Either voltage limit or current limit is sufficient to protect inputs.  
<
Note 3: For 8 bits toggling, I  
CCD  
0.5 mA/MHz.  
Note 4: Guaranteed but not tested.  
3
www.national.com  
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