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100331FMQB

更新时间： 2024-11-17 20:28:31
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 输出元件逻辑集成电路触发器
页数 文件大小 规格书
9页 83K
描述
100K SERIES, TRIPLE POSITIVE EDGE TRIGGERED D FLIP-FLOP, COMPLEMENTARY OUTPUT, CQFP24, CERPACK-24

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100331FMQB 技术参数

是否Rohs认证： 不符合生命周期：Obsolete
包装说明：QFF, QFL24,.4SQReach Compliance Code：unknown
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.33
Is Samacsys：N其他特性：WITH ADDITIONAL COMMON CLOCK, SET AND RESET INPUTS; OPTEMP SPECIFIED AS TC
系列：100KJESD-30 代码：S-GQFP-F24
JESD-609代码：e0长度：9.398 mm
负载电容（CL）：3 pF逻辑集成电路类型：D FLIP-FLOP
最大频率@ Nom-Sup：400000000 Hz位数：1
功能数量：3端子数量：24
最高工作温度：125 °C最低工作温度：-55 °C
输出特性：OPEN-EMITTER输出极性：COMPLEMENTARY
封装主体材料：CERAMIC, GLASS-SEALED封装代码：QFF
封装等效代码：QFL24,.4SQ封装形状：SQUARE
封装形式：FLATPACK峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED
电源：-4.5 V最大电源电流（ICC）：130 mA
Prop。Delay @ Nom-Sup：2.5 ns传播延迟（tpd）：2.4 ns
认证状态：Not Qualified筛选级别：MIL-STD-883 Class B
座面最大高度：2.159 mm子类别：FF/Latches
表面贴装：YES技术：ECL
温度等级：MILITARY端子面层：Tin/Lead (Sn/Pb)
端子形式：FLAT端子节距：1.27 mm
端子位置：QUAD处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED
触发器类型：POSITIVE EDGE宽度：9.398 mm
最小 fmax：400 MHzBase Number Matches：1

100331FMQB 数据手册

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MICROCIRCUIT DATA SHEET  
Original Creation Date: 10/30/95  
Last Update Date: 04/23/04  
MN100331-X REV 1B0  
Last Major Revision Date: 08/21/96  
LOW POWER TRIPLE D FLIP-FLOP  
General Description  
The F100331 contains three D-type, edge-triggered master/slave flip-flops with true and  
complement outputs, a common clock (CPc), and Master Set (MS) and Master Reset (MR)  
inputs. Each flip-flop has individual clock (CPn), Direct Set (SDn) and Direct Clear  
(CDn) Inputs. Data enters a master when both CPn and CPc are LOW and transfers to a slave  
when CPn or CPc (or both) go HIGH. The Master Set, Master Reset and individual CDn and  
SDn inputs override the Clock inputs. All inputs have 50k ohm pull-down resistors.  
Industry Part Number  
NS Part Numbers  
100331  
100331DMQB  
100331FMQB  
100331J-QMLV  
100331W-QMLV  
100331WFQMLV  
Prime Die  
F331  
Controlling Document  
SEE FEATURES SECTION  
Processing  
Subgrp Description  
Temp (oC)  
MIL-STD-883, Method 5004  
1
Static tests at  
+25  
2
Static tests at  
+125  
-55  
3
Static tests at  
4
Dynamic tests at  
Dynamic tests at  
Dynamic tests at  
Functional tests at  
Functional tests at  
Functional tests at  
Switching tests at  
Switching tests at  
Switching tests at  
+25  
Quality Conformance Inspection  
5
+125  
-55  
6
MIL-STD-883, Method 5005  
7
+25  
8A  
8B  
9
+125  
-55  
+25  
10  
11  
+125  
-55  
1
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