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M5-256/160-7YC/1

更新时间： 2024-10-30 14:30:19

品牌	Logo	应用领域
莱迪思 - LATTICE		时钟输入元件可编程逻辑
页数	文件大小	规格书
42页	807K
描述
EE PLD, 7.5ns, 256-Cell, CMOS, PQFP208, PLASTIC, QFP-208

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M5-256/160-7YC/1 技术参数

是否Rohs认证：	不符合	生命周期：	Obsolete
零件包装代码：	QFP	包装说明：	PLASTIC, QFP-208
针数：	208	Reach Compliance Code：	unknown
ECCN代码：	EAR99	HTS代码：	8542.39.00.01
风险等级：	5.82	其他特性：	YES
最大时钟频率：	100 MHz	系统内可编程：	YES
JESD-30 代码：	S-PQFP-G208	JESD-609代码：	e0
JTAG BST：	YES	长度：	28 mm
湿度敏感等级：	3	专用输入次数：
I/O 线路数量：	160	宏单元数：	256
端子数量：	208	最高工作温度：	70 °C
最低工作温度：		组织：	0 DEDICATED INPUTS, 160 I/O
输出函数：	MACROCELL	封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY
封装代码：	FQFP	封装等效代码：	QFP208,1.2SQ,20
封装形状：	SQUARE	封装形式：	FLATPACK, FINE PITCH
峰值回流温度（摄氏度）：	225	电源：	5 V
可编程逻辑类型：	EE PLD	传播延迟：	7.5 ns
认证状态：	Not Qualified	座面最大高度：	4.1 mm
子类别：	Programmable Logic Devices	最大供电电压：	5.25 V
最小供电电压：	4.75 V	标称供电电压：	5 V
表面贴装：	YES	技术：	CMOS
温度等级：	COMMERCIAL	端子面层：	Tin/Lead (Sn85Pb15)
端子形式：	GULL WING	端子节距：	0.5 mm
端子位置：	QUAD	处于峰值回流温度下的最长时间：	30
宽度：	28 mm	Base Number Matches：	1

M5-256/160-7YC/1 数据手册

MACH 5 CPLD Family

Fifth Generation MACH Architecture

FEATURES

◆ High logic densities and I/Os for increased logic integration

— 128 to 512 macrocell densities

— 68 to 256 I/Os

◆ Wide selection of density and I/O combinations to support most application needs

— 6 macrocell density options

— 7 I/O options

— Up to 4 I/O options per macrocell density

— Up to 5 density & I/O options for each package

◆ Performance features to ﬁt system needs

— 5.5 ns t Commercial, 7.5 ns t Industrial

— 182 MHz f

CNT

— Four programmable power/speed settings per block

◆ Flexible architecture facilitates logic design

— Multiple levels of switch matrices allow for performance-based routing

— 100% routability and pin-out retention

— Synchronous and asynchronous clocking, including dual-edge clocking

— Asynchronous product- or sum-term set or reset

— 16 to 64 output enables

— Functions of up to 32 product terms

◆ Advanced capabilities for easy system integration

— 3.3-V & 5-V JEDEC-compliant operations

— IEEE 1149.1 compliant for boundary scan testing

— 3.3-V & 5-V in-system programmable via IEEE 1149.1 Boundary Scan Test Access Port

— PCI compliant (-5/-6/-7/-10/-12 speed grades)

— Safe for mixed supply voltage system design

— Bus-Friendly™ Inputs & I/Os

— Individual output slew rate control

— Hot socketing

— Programmable security bit

◆ Advanced E CMOS process provides high performance, cost effective solutions

Publication# 20446

Amendment/0

Rev: J

Issue Date: April 2002

12 3 4 5 6 7...42

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M5-256/160-7YI/1	LATTICE	获取价格	EE PLD, 7.5ns, 256-Cell, CMOS, PQFP208, PLASTIC, QFP-208
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