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LM57-Q1
ZHCSDV7 –JULY 2015
LM57-Q1 电阻可编程温度开关和模拟温度传感器
1 特性
3 说明
1
•
符合汽车级应用要求。关于商用器件,请参见
LM57 数据表
LM57-Q1 器件是一款具有模拟温度传感器输出的精密
双路输出温度开关,适用于宽温度范围的应用(例如汽
车级)。 跳变温度 (TTRIP) 可从 –40°C 至 160°CVTEMP
是 AB 类模拟电压输出,该电压输出与温度成正比,负
温度系数 (NTC) 可编程。 两个外部 1% 电阻设置
•
具有符合 AEC-Q100 的下列结果:
–
温度 0 级扩展:−50°C 至 +160°C 的工作温度
范围,甚至可高达 170°C
–
–
–
温度 0 级:-50°C 至 +150°C 的工作温度范围
温度 1 级:-50°C 至 +125°C 的工作温度范围
T
TRIP 和 VTEMP 斜率。 数字和模拟输出具有保护功
能,并且可监视系统过热事件。
人体模型 (HBM) 静电放电 (ESD) 组件分类等级
2
内置的热滞后功能 (THYST) 可防止数字输出发生振荡。
TOVER 和 TOVER 数字输出将在芯片温度超过 TTRIP 时置
–
充电器件模型 (CDM) ESD 组件分类等级 C5
为有效,在芯片温度低于 TTRIP 与 THYST 的差值时置为
无效。
•
可通过外部电阻在 −40°C 至 +150°C 温度范围内设
置跳变温度,
精度为 ±2.3°C
TOVER 为高电平有效,并且采用推挽结构。 TOVER 为
•
•
•
•
电阻容差不会引入误差
低电平有效,并且采用开漏结构。 将 TOVER 与 TRIP-
TEST 相连,可在输出发生跳变后将其锁存。 将
TRIP-TEST 强制为低电平可将输出清零。 将 TRIP-
TEST 驱动为高电平会将数字输出置为有效。 处理器
可检查 TOVER 或 TOVER 的状态,从而确认它们是否已
切换至激活状态。 这样一来,便可以在系统装配后现
场验证比较器和输出电路的功能。 当 TRIP-TEST 为
高电平时,VTEMP 引脚为跳变基准电压。 系统随后可
使用该电压计算 LM57-Q1 的阈值。
推挽和开漏开关输出
宽工作温度范围:−50°C 至 160°C
超线性模拟 VTEMP 温度传感器输出,−50°C 至
+150°C 温度范围内的精度为
±1.3°C
•
•
•
•
具有短路保护的模拟和数字输出
数字输出具有锁存功能
TRIP-TEST 引脚支持系统内测试
低功耗特性最大程度减少自发热,使其低于 0.02°C
器件信息 (1) (2)
2 应用范围
器件型号
LM57 -Q1
封装
TSSOP (8)
封装尺寸(标称值)
•
•
汽车用
3.00mm × 6.40mm
井下设备和航空电子设备
(1) 要了解所有可用封装,请见数据表末尾的可订购产品附录。
(2) 关于器件比较,请参见 Device Comparison Table 。
LM57-Q1 过热报警
温度传递函数
V
DD
Supply
(+2.4V to +5.5V)
3,500
J2 (-5.166mV/°C)
J3 (-7.752mV/°C)
J4 (-10.339mV/°C)
J5 (-12.924mV/°C)
3,000
2,500
2,000
1,500
1,000
500
V
DD
Analog
V
TEMP
ADC Input
LM57
Microcontroller
SENSE1
T
OVER
SENSE2
Digital In
T
OVER
TRIP TEST
GND
Digital Out
0
-50
-25
0
25
50
75
100
125
150
175
TEMPERTURE (C)
C101
1
An IMPORTANT NOTICE at the end of this data sheet addresses availability, warranty, changes, use in safety-critical applications,
intellectual property matters and other important disclaimers. PRODUCTION DATA.
English Data Sheet: SNIS191