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K4S640832E-TC1H0

更新时间: 2024-02-21 00:51:41
品牌 Logo 应用领域
三星 - SAMSUNG 时钟动态存储器光电二极管内存集成电路
页数 文件大小 规格书
10页 126K
描述
Synchronous DRAM, 8MX8, 6ns, CMOS, PDSO54

K4S640832E-TC1H0 技术参数

是否Rohs认证: 不符合生命周期:Active
Reach Compliance Code:compliant风险等级:5.83
最长访问时间:6 ns最大时钟频率 (fCLK):100 MHz
I/O 类型:COMMON交错的突发长度:1,2,4,8
JESD-30 代码:R-PDSO-G54内存密度:67108864 bit
内存集成电路类型:SYNCHRONOUS DRAM内存宽度:8
湿度敏感等级:3端子数量:54
字数:8388608 words字数代码:8000000
最高工作温度:70 °C最低工作温度:
组织:8MX8输出特性:3-STATE
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装代码:TSOP
封装等效代码:TSOP54,.46,32封装形状:RECTANGULAR
封装形式:SMALL OUTLINE, THIN PROFILE电源:3.3 V
认证状态:Not Qualified刷新周期:4096
连续突发长度:1,2,4,8,FP最大待机电流:0.001 A
子类别:DRAMs最大压摆率:0.125 mA
标称供电电压 (Vsup):3.3 V表面贴装:YES
技术:CMOS温度等级:COMMERCIAL
端子形式:GULL WING端子节距:0.8 mm
端子位置:DUALBase Number Matches:1

K4S640832E-TC1H0 数据手册

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K4S640832E  
CMOS SDRAM  
64Mbit SDRAM  
2M x 8Bit x 4 Banks  
Synchronous DRAM  
LVTTL  
Revision 0.1  
Sept. 2001  
* Samsung Electronics reserves the right to change products or specification without notice.  
Rev.0.1 Sept. 2001  

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