是否Rohs认证: | 符合 | 生命周期: | Obsolete |
零件包装代码: | BGA | 包装说明: | TFBGA, BGA82,11X13,32 |
针数: | 82 | Reach Compliance Code: | compliant |
ECCN代码: | EAR99 | HTS代码: | 8542.32.00.32 |
风险等级: | 5.84 | 访问模式: | MULTI BANK PAGE BURST |
最长访问时间: | 0.4 ns | 其他特性: | AUTO/SELF REFRESH |
最大时钟频率 (fCLK): | 400 MHz | I/O 类型: | COMMON |
交错的突发长度: | 8 | JESD-30 代码: | R-PBGA-B82 |
长度: | 11 mm | 内存密度: | 1073741824 bit |
内存集成电路类型: | DDR DRAM | 内存宽度: | 4 |
功能数量: | 1 | 端口数量: | 1 |
端子数量: | 82 | 字数: | 268435456 words |
字数代码: | 256000000 | 工作模式: | SYNCHRONOUS |
最高工作温度: | 95 °C | 最低工作温度: | |
组织: | 256MX4 | 输出特性: | 3-STATE |
封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY | 封装代码: | TFBGA |
封装等效代码: | BGA82,11X13,32 | 封装形状: | RECTANGULAR |
封装形式: | GRID ARRAY, THIN PROFILE, FINE PITCH | 峰值回流温度(摄氏度): | NOT SPECIFIED |
电源: | 1.5 V | 认证状态: | Not Qualified |
刷新周期: | 8192 | 座面最大高度: | 1.2 mm |
自我刷新: | YES | 连续突发长度: | 8 |
子类别: | DRAMs | 最大压摆率: | 0.23 mA |
最大供电电压 (Vsup): | 1.575 V | 最小供电电压 (Vsup): | 1.425 V |
标称供电电压 (Vsup): | 1.5 V | 表面贴装: | YES |
技术: | CMOS | 温度等级: | OTHER |
端子形式: | BALL | 端子节距: | 0.8 mm |
端子位置: | BOTTOM | 处于峰值回流温度下的最长时间: | NOT SPECIFIED |
宽度: | 9 mm |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
K4B1G0446D-HCF7T | SAMSUNG |
获取价格 |
Cache DRAM Module, 256MX4, 0.4ns, CMOS, PBGA82 | |
K4B1G0446D-HCF8 | SAMSUNG |
获取价格 |
1Gb D-die DDR3 SDRAM Specification | |
K4B1G0446D-HCH9 | SAMSUNG |
获取价格 |
1Gb D-die DDR3 SDRAM Specification | |
K4B1G0446E | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR3 SDRAM Memory | |
K4B1G0446E-HCF7 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 256MX4, 0.2ns, CMOS, PBGA78 | |
K4B1G0446E-HCF8 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 256MX4, 0.15ns, CMOS, PBGA78, | |
K4B1G0446F | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR3 SDRAM Memory | |
K4B1G0446F-HCF8 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 256MX4, 0.3ns, CMOS, PBGA78, | |
K4B1G0446F-HYF8 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 256MX4, 0.3ns, CMOS, PBGA78, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, FBGA-78 | |
K4B1G0446F-HYF80 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 256MX4, 0.3ns, CMOS, PBGA78 |