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DS1345YL-100-IND

更新时间: 2024-02-21 22:21:09
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达拉斯 - DALLAS 电池存储内存集成电路静态存储器监控
页数 文件大小 规格书
9页 219K
描述
1024K Nonvolatile SRAM with Battery Monitor

DS1345YL-100-IND 技术参数

是否Rohs认证: 不符合生命周期:Obsolete
零件包装代码:SOIC包装说明:LOW PROFILE, SMT-34
针数:34Reach Compliance Code:not_compliant
ECCN代码:EAR99HTS代码:8542.32.00.41
风险等级:5.44Is Samacsys:N
最长访问时间:100 ns其他特性:10 YEAR DATA RETENTION PERIOD
JESD-30 代码:R-PDSO-U34JESD-609代码:e0
长度:24.5745 mm内存密度:1048576 bit
内存集成电路类型:NON-VOLATILE SRAM MODULE内存宽度:8
功能数量:1端子数量:34
字数:131072 words字数代码:128000
工作模式:ASYNCHRONOUS最高工作温度:85 °C
最低工作温度:-40 °C组织:128KX8
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装代码:SOJ-I
封装等效代码:MODULE,34LEAD,1.0封装形状:RECTANGULAR
封装形式:SMALL OUTLINE并行/串行:PARALLEL
电源:5 V认证状态:Not Qualified
座面最大高度:6.35 mm最大待机电流:0.00015 A
子类别:SRAMs最大压摆率:0.085 mA
最大供电电压 (Vsup):5.5 V最小供电电压 (Vsup):4.5 V
标称供电电压 (Vsup):5 V表面贴装:YES
技术:CMOS温度等级:INDUSTRIAL
端子面层:TIN LEAD端子形式:J INVERTED
端子节距:1.27 mm端子位置:DUAL
宽度:21.5265 mmBase Number Matches:1

DS1345YL-100-IND 数据手册

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