CY7C1566KV18/CY7C1577KV18
CY7C1568KV18/CY7C1570KV18
72-Mbit DDR II+ SRAM 2- 字突发架构
(2.5 周期读延迟)
72-Mbit DDR II+ SRAM
2 字突发架构 (2.5 周期读延迟)
特性
配置
■ 72-Mbit 容量 (8 M × 8、8 M × 9、4 M × 18、2 M × 36)
■ 550 MHz 时钟实现高带宽
具有 2.5 周期的读周期延迟:
CY7C1566KV18 – 8 M × 8
CY7C1577KV18 – 8 M × 9
CY7C1568KV18 – 4 M × 18
CY7C1570KV18 – 2 M × 36
■ 2 字突发降低地址总线频率
■ 双数据速率 (DDR) 接口 (数据传输速率
1100 MHz),工作频率 550 MHz
■ 可提供 2.5 个时钟周期延迟
功能描述
■ 两个输入时钟 (K 和 K),能够实现精确的 DDR 时序
❐ SRAM 仅使用上升沿
CY7C1566KV18、CY7C1577KV18、CY7C1568KV18
和
CY7C1570KV18 都是包含 DDR II+ 架构的 1.8 V 同步流水线
SRAM。 DDR II+ 包含一个带有先进同步外围电路的 SRAM 内
核。用于读和写的地址被锁止在输入 (K) 时钟的备选上升沿。写
数据同时在 K 和 K 的上升沿被寄存。读数据同时在 K 和 K 的上
升沿被驱动。每个地址都与两个 8 位字 (CY7C1566KV18)、9 位
字 (CY7C1577KV18)、18 位字 (CY7C1568KV18) 或 36 位字
(CY7C1570KV18) 相关联,这些字以突发模式按顺序传入或传出
器件。
■ 随路时钟 (CQ 和 CQ),能够简化高速系统中的数据捕获
■ 数据有效引脚 (QVLD) 表示输出上的有效数据
■ 同步内部自定时写入
■ 当 DOFF 置为高电平时,DDR II+ 会有 2.5 个周期的读延迟
■ 当 DOFF 置为低电平时,其工作方式与 QDR I 器件类似,会有
1 个周期的读延迟
异步输入包含输出阻抗匹配输入 (ZQ)。同步数据输出 (Q,与数
据输入 D 共享相同的物理引脚)与两个输出随路时钟 CQ/CQ 紧
密匹配,消除了系统设计中从单个 DDR SRAM 单独捕获数据的
需要。
[1]
■ 内核 VDD = 1.8 V ± 0.1 V ; I/O VDDQ = 1.4 V 至 VDD
❐ 支持 1.5V 和 1.8 V I/O 电源
■ HSTL 输入和驱动能力可调的 HSTL 输出缓冲器
■ 可提供 165 脚小间距 BGA (FBGA) 封装 (13 × 15 × 1.4 mm)
■ 有含铅和不含铅封装可供选择
所有同步输入都会通过由 K 或 K 控制的输入寄存器。所有数据
输出都会通过由 K 或 K 输入时钟控制的输出寄存器。写操作通
过片上同步自定时写电路进行。
■ JTAG 1149.1 兼容测试端口
■ 锁相环 (PLL),能够实现精确的数据放置
产品选择指南
说明
550 MHz
500 MHz
500
450 MHz
450
400 MHz
400
单位
MHz
mA
最大工作频率
最大工作电流
550
740
740
760
970
×8
×9
×18
×36
690
690
700
890
630
630
650
820
580
580
590
750
注:
1. 赛普拉斯 QDR II+ 器件超过了 QDR 联盟规范,可支持 V
= 1.4 V 到 V
。
DDQ
DD
赛普拉斯半导体公司
文档编号:001-63674 修订版 *B
•
198 Champion Court
•
San Jose, CA 95134-1709
•
408-943-2600
修订时间 2014 年 5 月 22 日