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DDR-II+ SIO PDF预览

DDR-II+ SIO

更新时间: 2024-11-06 14:54:35
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29页 666K
描述
QDR?-IV Solution provides fast random memory access to Exablaze's Exalink fusion switch

DDR-II+ SIO 数据手册

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CY7C1566KV18/CY7C1577KV18  
CY7C1568KV18/CY7C1570KV18  
72-Mbit DDR II+ SRAM 2- 字突发架构  
(2.5 周期读延迟)  
72-Mbit DDR II+ SRAM  
2 字突发架构 (2.5 周期读延迟)  
特性  
配置  
72-Mbit 容量 (8 M × 8、8 M × 9、4 M × 18、2 M × 36)  
550 MHz 时钟实现高带宽  
具有 2.5 周期的读周期延迟:  
CY7C1566KV18 – 8 M × 8  
CY7C1577KV18 – 8 M × 9  
CY7C1568KV18 – 4 M × 18  
CY7C1570KV18 – 2 M × 36  
2 字突发降低地址总线频率  
双数据速率 (DDR) 接口 (数据传输速率  
1100 MHz工作频率 550 MHz  
可提供 2.5 个时钟周期延迟  
功能描述  
两个输入时钟 (K 和 K能够实现精确的 DDR 时序  
SRAM 仅使用上升沿  
CY7C1566KV18、CY7C1577KV18、CY7C1568KV18  
CY7C1570KV18 都是包含 DDR II+ 架构的 1.8 V 同步流水线  
SRAM。 DDR II+ 包含一个带有先进同步外围电路的 SRAM 内  
核。用于读和写的地址被锁止在输入 (K) 时钟的备选上升沿。写  
数据同时在 K 和 K 的上升沿被寄存。读数据同时在 K 和 K 的上  
升沿被驱动个地址都与两个 8 位字 (CY7C1566KV18)9 位  
字 (CY7C1577KV18)、18 位字 (CY7C1568KV18) 或 36 位字  
(CY7C1570KV18) 相关联些字以突发模式按顺序传入或传出  
器件。  
随路时钟 (CQ 和 CQ能够简化高速系统中的数据捕获  
数据有效引脚 (QVLD) 表示输出上的有效数据  
同步内部自定时写入  
当 DOFF 置为高电平时,DDR II+ 会有 2.5 个周期的读延迟  
当 DOFF 置为低电平时工作方式与 QDR I 器件类似有  
1 个周期的读延迟  
异步输入包含输出阻抗匹配输入 (ZQ)步数据输出 (Q,与数  
据输入 D 共享相同的物理引脚两个输出随路时钟 CQ/CQ 紧  
密匹配,消除了系统设计中从单个 DDR SRAM 单独捕获数据的  
需要。  
[1]  
内核 VDD = 1.8 V ± 0.1 V ; I/O VDDQ = 1.4 V 至 VDD  
支持 1.5V 和 1.8 V I/O 电源  
HSTL 输入和驱动能力可调的 HSTL 输出缓冲器  
可提供 165 脚小间距 BGA (FBGA) 封装 (13 × 15 × 1.4 mm)  
有含铅和不含铅封装可供选择  
所有同步输入都会通过由 K 或 K 控制的输入寄存器有数据  
输出都会通过由 K 或 K 输入时钟控制的输出寄存器操作通  
过片上同步自定时写电路进行。  
JTAG 1149.1 兼容测试端口  
锁相环 (PLL),能够实现精确的数据放置  
产品选择指南  
说明  
550 MHz  
500 MHz  
500  
450 MHz  
450  
400 MHz  
400  
单位  
MHz  
mA  
最大工作频率  
最大工作电流  
550  
740  
740  
760  
970  
×8  
×9  
×18  
×36  
690  
690  
700  
890  
630  
630  
650  
820  
580  
580  
590  
750  
注:  
1. 赛普拉斯 QDR II+ 器件超过了 QDR 联盟规范,可支持 V  
= 1.4 V 到 V  
DDQ  
DD  
赛普拉斯半导体公司  
文档编号:001-63674 修订版 *B  
198 Champion Court  
San Jose, CA 95134-1709  
408-943-2600  
修订时间 2014 年 5 月 22 日  

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