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ATF22LV10CQZ-30XU-T

更新时间： 2024-02-14 21:26:55

品牌	Logo	应用领域
美国微芯 - MICROCHIP		时钟输入元件光电二极管可编程逻辑
页数	文件大小	规格书
19页	1813K
描述
Flash PLD, 30ns, CMOS, PDSO24

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ATF22LV10CQZ-30XU-T 技术参数

生命周期：	Active	包装说明：	TSSOP,
Reach Compliance Code：	compliant	风险等级：	5.67
最大时钟频率：	25 MHz	JESD-30 代码：	R-PDSO-G24
长度：	7.8 mm	专用输入次数：	11
I/O 线路数量：	10	端子数量：	24
最高工作温度：	85 °C	最低工作温度：	-40 °C
组织：	11 DEDICATED INPUTS, 10 I/O	输出函数：	MACROCELL
封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY	封装代码：	TSSOP
封装形状：	RECTANGULAR	封装形式：	SMALL OUTLINE, THIN PROFILE, SHRINK PITCH
可编程逻辑类型：	FLASH PLD	传播延迟：	30 ns
座面最大高度：	1.2 mm	最大供电电压：	5.5 V
最小供电电压：	3 V	标称供电电压：	3.3 V
表面贴装：	YES	技术：	CMOS
温度等级：	INDUSTRIAL	端子形式：	GULL WING
端子节距：	0.65 mm	端子位置：	DUAL
宽度：	4.4 mm	Base Number Matches：	1

ATF22LV10CQZ-30XU-T 数据手册

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Atmel ATF22LV10C

3.4

Power-down AC Characteristics

-10

-15

Symbol

t_IVDH

Parameter

Min

Max

Min

Max

Units

Valid Input before PD High

Valid OE before PD High

Valid Clock before PD High

Input Don't Care after PD High

OE Don't Care after PD High

Clock Don't Care after PD High

PD Low to Valid Input

t_GVDH

t_CVDH

t_DHIX

t_DHGX

t_DHCX

t_DLIV

t_DLGV

t_DLCV

t_DLOV

PD Low to Valid OE

PD Low to Valid Clock

PD Low to Valid Output

3.5

Input Test Waveforms and Measurement Levels

t_R, t_F< 1.5ns

3.6

Output Test Loads

3.3V

R1 = 316

OUTPUT

CL = 35pF

R2 = 348

Note:

Similar competitors devices are specified with slightly different loads. These load differences may affect output signals’

delay and slew rate. Atmel^®devices are tested with sufficient margins to meet compatible device

specification conditions.

Table 3-1.

Pin Capacitance (f = 1MHz, T = 25°C⁽¹⁾

Typ

Max

Units

Conditions

V_IN= 0V

C_IN

C_OUT

V_OUT= 0V

Note:

1. Typical values for nominal supply voltage. This parameter is only sampled and is not 100% tested

0780M–PLD–7/10

1 2 3 456 7 8...19

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