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74HCT30D-Q100

更新时间： 2024-02-23 20:30:03

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安世 - NEXPERIA		/
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14页	688K
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8-input NAND gate

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74HCT30D-Q100 技术参数

是否Rohs认证：	符合	生命周期：	Transferred
零件包装代码：	SOIC	包装说明：	3.90 MM, PLASTIC, MS-012, SOT108-1, SOP-14
针数：	14	Reach Compliance Code：	compliant
风险等级：	5.83

74HCT30D-Q100 数据手册

74HC30-Q100; 74HCT30-Q100

Nexperia

8-input NAND gate

90 %

negative

pulse

10 %

GND

90 %

positive

pulse

10 %

GND

DUT

001aah768

Test data is given in Table 9.

Definitions for test circuit:

R_T= termination resistance should be equal to the output impedance Z_oof the pulse generator.

C_L= load capacitance including jig and probe capacitance.

Fig 6. Test circuit for measuring switching times

Table 9.

Type

Test data

Input

V_I

Load

Test

t_r, t_f

C_L

74HC30-Q100

74HCT30-Q100

V_CC

3.0 V

6.0 ns

15 pF, 50 pF

t_PLH, t_PHL

74HC_HCT30_Q100

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Product data sheet

Rev. 1 — 30 January 2013

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