是否Rohs认证: | 不符合 | 生命周期: | Transferred |
包装说明: | DIP, DIP16,.3 | Reach Compliance Code: | unknown |
风险等级: | 5.73 | JESD-30 代码: | R-PDIP-T16 |
JESD-609代码: | e0 | 逻辑集成电路类型: | J-K FLIP-FLOP |
最大频率@ Nom-Sup: | 80000000 Hz | 最大I(ol): | 0.008 A |
功能数量: | 2 | 端子数量: | 16 |
最高工作温度: | 70 °C | 最低工作温度: | |
封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY | 封装代码: | DIP |
封装等效代码: | DIP16,.3 | 封装形状: | RECTANGULAR |
封装形式: | IN-LINE | 电源: | 5 V |
最大电源电流(ICC): | 4 mA | 认证状态: | Not Qualified |
子类别: | FF/Latches | 标称供电电压 (Vsup): | 5 V |
表面贴装: | NO | 技术: | TTL |
温度等级: | COMMERCIAL | 端子面层: | Tin/Lead (Sn/Pb) |
端子形式: | THROUGH-HOLE | 端子节距: | 2.54 mm |
端子位置: | DUAL | 触发器类型: | POSITIVE EDGE |
Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
74ALS10A | NXP |
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Triple 3-Input NAND gate | |
74ALS10AD | NXP |
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Triple 3-Input NAND gate | |
74ALS10AN | NXP |
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Triple 3-Input NAND gate | |
74ALS112 | NXP |
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Dual J-K negative edge-triggered flip-flop | |
74ALS112A | NXP |
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Dual J-K negative edge-triggered flip-flop | |
74ALS112AD | NXP |
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Dual J-K negative edge-triggered flip-flop | |
74ALS112AN | NXP |
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Dual J-K negative edge-triggered flip-flop | |
74ALS11A | NXP |
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Triple 3-Input AND gate | |
74ALS11AD | NXP |
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Triple 3-Input AND gate | |
74ALS11AD-T | NXP |
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IC ALS SERIES, TRIPLE 3-INPUT AND GATE, PDSO14, PLASTIC, SO-14, Gate |