是否无铅: | 含铅 | 是否Rohs认证: | 不符合 |
生命周期: | Obsolete | 包装说明: | DIP, DIP14,.3 |
Reach Compliance Code: | compliant | HTS代码: | 8542.39.00.01 |
风险等级: | 5.92 | JESD-30 代码: | R-XDIP-T14 |
JESD-609代码: | e0 | 逻辑集成电路类型: | NAND GATE |
最大I(ol): | 0.016 A | 湿度敏感等级: | 2A |
端子数量: | 14 | 最高工作温度: | 70 °C |
最低工作温度: | 输出特性: | OPEN-COLLECTOR | |
封装主体材料: | CERAMIC | 封装代码: | DIP |
封装等效代码: | DIP14,.3 | 封装形状: | RECTANGULAR |
封装形式: | IN-LINE | 峰值回流温度(摄氏度): | 250 |
电源: | 5 V | 最大电源电流(ICC): | 22 mA |
Prop。Delay @ Nom-Sup: | 24 ns | 认证状态: | Not Qualified |
施密特触发器: | NO | 子类别: | Gates |
标称供电电压 (Vsup): | 5 V | 表面贴装: | NO |
技术: | TTL | 温度等级: | COMMERCIAL |
端子面层: | Tin/Lead (Sn/Pb) | 端子形式: | THROUGH-HOLE |
端子节距: | 2.54 mm | 端子位置: | DUAL |
处于峰值回流温度下的最长时间: | 30 | Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
7426-F | MOLEX |
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Barrier Strip Terminal Block, 30A, 1 Row(s), 1 Deck(s) | |
7426FC | FAIRCHILD |
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NAND Gate, TTL, CDFP14, | |
7426FCQM | FAIRCHILD |
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NAND Gate, TTL, CDFP14, | |
7426FCQR | FAIRCHILD |
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NAND Gate, TTL, CDFP14, | |
7426J | TI |
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TTL/H/L SERIES, QUAD 2-INPUT NAND GATE, CDIP14 | |
7426-M | MOLEX |
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Barrier Strip Terminal Block, 30A, 1 Row(s), 1 Deck(s) | |
7426-P | MOLEX |
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Barrier Strip Terminal Block, 30A, 1 Row(s), 1 Deck(s) | |
7426PC | FAIRCHILD |
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NAND Gate, TTL, PDIP14, | |
7426PCQM | FAIRCHILD |
获取价格 |
NAND Gate, TTL, PDIP14, | |
7426PCQR | FAIRCHILD |
获取价格 |
NAND Gate, TTL, PDIP14, |