是否无铅: | 含铅 | 是否Rohs认证: | 不符合 |
生命周期: | Obsolete | Reach Compliance Code: | compliant |
HTS代码: | 8542.39.00.01 | 风险等级: | 5.92 |
JESD-30 代码: | R-XDFP-F14 | JESD-609代码: | e0 |
逻辑集成电路类型: | NAND GATE | 最大I(ol): | 0.016 A |
湿度敏感等级: | 2A | 端子数量: | 14 |
最高工作温度: | 70 °C | 最低工作温度: | |
输出特性: | OPEN-COLLECTOR | 封装主体材料: | CERAMIC |
封装代码: | DFP | 封装等效代码: | FL14,.3 |
封装形状: | RECTANGULAR | 封装形式: | FLATPACK |
峰值回流温度(摄氏度): | 250 | 电源: | 5 V |
最大电源电流(ICC): | 22 mA | Prop。Delay @ Nom-Sup: | 24 ns |
施密特触发器: | NO | 子类别: | Gates |
标称供电电压 (Vsup): | 5 V | 表面贴装: | YES |
技术: | TTL | 温度等级: | COMMERCIAL |
端子面层: | Tin/Lead (Sn/Pb) | 端子形式: | FLAT |
端子节距: | 1.27 mm | 端子位置: | DUAL |
处于峰值回流温度下的最长时间: | 30 | Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
7426J | TI |
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TTL/H/L SERIES, QUAD 2-INPUT NAND GATE, CDIP14 | |
7426-M | MOLEX |
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Barrier Strip Terminal Block, 30A, 1 Row(s), 1 Deck(s) | |
7426-P | MOLEX |
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Barrier Strip Terminal Block, 30A, 1 Row(s), 1 Deck(s) | |
7426PC | FAIRCHILD |
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NAND Gate, TTL, PDIP14, | |
7426PCQM | FAIRCHILD |
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NAND Gate, TTL, PDIP14, | |
7426PCQR | FAIRCHILD |
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NAND Gate, TTL, PDIP14, | |
7426-V | MOLEX |
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Barrier Strip Terminal Block, 30A, 1 Row(s), 1 Deck(s) | |
7427(ECA). | ETC |
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NOR.Gatter mit Gegen臼k恒U咽.ng NOR gate with t | |
74270001 | WURTH |
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WE-SAFB Small Size EMI Suppression Ferrite Bead | |
74270010 | WURTH |
获取价格 |
WE-SAFB Small Size EMI Suppression Ferrite Bead |