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2SJ549S-E

更新时间: 2024-02-22 05:38:11
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瑞萨 - RENESAS 晶体晶体管场效应晶体管
页数 文件大小 规格书
9页 97K
描述
12A, 60V, 0.23ohm, P-CHANNEL, Si, POWER, MOSFET, LDPAK-3

2SJ549S-E 技术参数

是否Rohs认证: 符合生命周期:Not Recommended
零件包装代码:LDPAK(S)-(1)包装说明:SMALL OUTLINE, R-PSSO-G2
针数:4Reach Compliance Code:compliant
ECCN代码:EAR99风险等级:5.25
外壳连接:DRAIN配置:SINGLE WITH BUILT-IN DIODE
最小漏源击穿电压:60 V最大漏极电流 (Abs) (ID):12 A
最大漏极电流 (ID):12 A最大漏源导通电阻:0.23 Ω
FET 技术:METAL-OXIDE SEMICONDUCTORJESD-30 代码:R-PSSO-G2
JESD-609代码:e6湿度敏感等级:1
元件数量:1端子数量:2
工作模式:ENHANCEMENT MODE最高工作温度:150 °C
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装形状:RECTANGULAR
封装形式:SMALL OUTLINE峰值回流温度(摄氏度):245
极性/信道类型:P-CHANNEL最大功率耗散 (Abs):50 W
最大脉冲漏极电流 (IDM):48 A认证状态:Not Qualified
子类别:Other Transistors表面贴装:YES
端子面层:TIN BISMUTH端子形式:GULL WING
端子位置:SINGLE处于峰值回流温度下的最长时间:20
晶体管应用:SWITCHING晶体管元件材料:SILICON
Base Number Matches:1

2SJ549S-E 数据手册

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2SJ549(L), 2SJ549(S)  
Reverse Drain Current vs.  
Source to Drain Voltage  
Maximum Avalanche Energy vs.  
Channel Temperature Derating  
–10  
–8  
–6  
–4  
–2  
0
20  
16  
12  
8
IAP = –12 A  
VDD = –25 V  
duty < 0.1 %  
Rg 50 Ω  
–10 V  
–5 V  
VGS = 0, 5 V  
4
Pulse Test  
–1.2 –1.6 –2.0  
0
25  
0
–0.4  
–0.8  
50  
75  
100  
125  
150  
Source to Drain Voltage VSD (V)  
Channel Temperature Tch (°C)  
Normalized Transient Thermal Impedance vs. Pulse Width  
3
1
Tc = 25°C  
D = 1  
0.5  
0.3  
0.1  
θch – c (t) = γ s (t) • θch – c  
θch – c = 2.5°C/W, Tc = 25°C  
PW  
T
D =  
PDM  
0.03  
0.01  
PW  
T
10 µ  
100 µ  
1 m  
10 m  
100 m  
1
10  
Pulse Width PW (S)  
Avalanche Test Circuit  
Avalanche Waveform  
VDSS  
1
2
2
L
EAR  
=
• L • IAP •  
VDS  
Monitor  
VDSS – VDD  
IAP  
Monitor  
V(BR)DSS  
IAP  
Rg  
VDD  
D.U.T  
VDS  
ID  
Vin  
–15 V  
50 Ω  
VDD  
0
Rev.4.00 Jun 05, 2006 page 5 of 8  

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