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1N5239BT/R

更新时间: 2024-02-15 04:41:01
品牌 Logo 应用领域
恩智浦 - NXP 稳压二极管测试
页数 文件大小 规格书
7页 39K
描述
DIODE 9.1 V, 0.4 W, SILICON, UNIDIRECTIONAL VOLTAGE REGULATOR DIODE, DO-35, HERMETIC SEALED, GLASS PACKAGE-2, Voltage Regulator Diode

1N5239BT/R 技术参数

是否无铅: 不含铅是否Rohs认证: 符合
生命周期:Obsolete零件包装代码:DO-35
包装说明:ROHS COMPLIANT, GLASS PACKAGE-2针数:2
Reach Compliance Code:compliantECCN代码:EAR99
HTS代码:8541.10.00.50风险等级:5.2
外壳连接:ISOLATED配置:SINGLE
二极管元件材料:SILICON二极管类型:ZENER DIODE
JEDEC-95代码:DO-35JESD-30 代码:O-LALF-W2
JESD-609代码:e3湿度敏感等级:1
元件数量:1端子数量:2
封装主体材料:GLASS封装形状:ROUND
封装形式:LONG FORM峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED
极性:UNIDIRECTIONAL最大功率耗散:0.5 W
认证状态:Not Qualified标称参考电压:9.1 V
表面贴装:NO技术:ZENER
端子面层:Matte Tin (Sn)端子形式:WIRE
端子位置:AXIAL处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
最大电压容差:20%工作测试电流:20 mA
Base Number Matches:1

1N5239BT/R 数据手册

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WORKING DIFFERENTIAL TEMP. COEFF.  
TEST  
CURRENT  
IZtest (mA) at f = 1 MHz;  
at VR = 0 V  
DIODE CAP. REVERSE CURRENT  
NON-REPETITIVE PEAK  
REVERSE CURRENT  
IZSM (A)  
VOLTAGE RESISTANCE  
SZ (%/K)  
at IZ  
Cd (pF)  
at REVERSE  
VOLTAGE  
(2)  
VZ (V)(1)  
at IZtest  
rdif ()  
TYPE No.  
at IZtest  
tp = 100 µs; Tamb = 25 °C  
IR (µA)  
VR  
(V)  
NOM.  
MAX.  
MAX.  
MAX.  
MAX.  
MAX.  
1N5251B  
1N5252B  
1N5253B  
1N5254B  
1N5255B  
1N5256B  
1N5257B  
1N5258B  
1N5259B  
1N5260B  
1N5261B  
1N5262B  
1N5263B  
1N5264B  
1N5265B  
1N5266B  
1N5267B  
22  
24  
25  
27  
28  
30  
33  
36  
39  
43  
47  
51  
56  
60  
62  
68  
75  
600  
600  
+0.087  
+0.088  
+0.089  
+0.090  
+0.091  
+0.091  
+0.092  
+0.093  
+0.094  
+0.095  
+0.095  
+0.096  
+0.096  
+0.097  
+0.097  
+0.097  
+0.098  
5.6  
5.2  
5.0  
4.6  
4.5  
4.2  
3.8  
3.4  
3.2  
3.0  
2.7  
2.5  
2.2  
2.1  
2.0  
1.8  
1.7  
60  
55  
55  
50  
50  
50  
45  
45  
45  
40  
40  
40  
40  
40  
35  
35  
35  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
17.0  
18.0  
19.0  
21.0  
21.0  
23.0  
25.0  
27.0  
30.0  
33.0  
36.0  
39.0  
43.0  
46.0  
47.0  
52.0  
56.0  
1.25  
1.25  
1.25  
1.0  
1.0  
1.0  
0.9  
0.8  
0.7  
0.6  
0.5  
0.4  
0.3  
0.3  
0.3  
0.25  
0.2  
600  
600  
600  
600  
700  
700  
800  
900  
1000  
1100  
1300  
1400  
1400  
1600  
1700  
Notes  
1. VZ is measured with device at thermal equilibrium while held in clips at 10 mm from body in still air at 25 °C.  
2. For types 1N5225B to 1N5242B the IZ current is 7.5 mA; for 1N5243B and higher IZ = IZtest. SZ values valid between 25 °C and 125 °C.  

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