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| 型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
| SNJ54ABT8240JT | TI |
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ABT SERIES, DUAL 4-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, INVERTED OUTPUT, CDIP24 |
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| SNJ54ABT8245FK | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS |
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| SNJ54ABT8245FKR | TI |
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ABT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, CQCC28, CERAMIC, LCC-28 |
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| SNJ54ABT8245JT | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS |
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| SNJ54ABT827FK | TI |
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10-BIT BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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| SNJ54ABT827JT | TI |
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10-BIT BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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| SNJ54ABT827W | TI |
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10-BIT BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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| SNJ54ABT8373JT | TI |
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ABT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, CDIP24 |
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| SNJ54ABT8374JT | TI |
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ABT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, CDIP24 |
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| SNJ54ABT841FK | TI |
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10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES ITH 3-STATE OUTPUTS |
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解析光耦仿真器：升级光耦合器技术的必要性
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