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SN74AS632JD

更新时间: 2024-11-15 18:52:19
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德州仪器 - TI 逻辑集成电路
页数 文件大小 规格书
2页 81K
描述
AS SERIES, 32-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, CDIP52

SN74AS632JD 技术参数

是否Rohs认证: 不符合生命周期:Obsolete
包装说明:DIP, DIP52,.6Reach Compliance Code:not_compliant
HTS代码:8542.39.00.01风险等级:5.83
其他特性:BUILT IN DIAGNOSTICS; BYTE CONTROL系列:AS
JESD-30 代码:R-CDIP-T52负载电容(CL):50 pF
逻辑集成电路类型:ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT位数:32
功能数量:1端子数量:52
最高工作温度:70 °C最低工作温度:
输出特性:3-STATE封装主体材料:CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED
封装代码:DIP封装等效代码:DIP52,.6
封装形状:RECTANGULAR封装形式:IN-LINE
峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED最大电源电流(ICC):300 mA
传播延迟(tpd):32 ns认证状态:Not Qualified
子类别:Arithmetic Circuits最大供电电压 (Vsup):5.5 V
最小供电电压 (Vsup):4.5 V标称供电电压 (Vsup):5 V
表面贴装:NO技术:TTL
温度等级:COMMERCIAL端子形式:THROUGH-HOLE
端子节距:2.54 mm端子位置:DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIEDBase Number Matches:1

SN74AS632JD 数据手册

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