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SCANSTA101_06

更新时间： 2022-04-23 23:00:11

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美国国家半导体 - NSC		/
页数	文件大小	规格书
32页	644K
描述
Low Voltage IEEE 1149.1 STA Master

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SCANSTA101_06 数据手册

Symbol

Parameter

Conditions

Min

2.0

1.0

2.0

10.0

2.5

2.0

Max

Units

TEST & DEBUG INTERFACE TIMING REQUIREMENTS (SCAN)

t_S

Setup Time

TMS to TCK

t_H

Hold Time

TMS to TCK

t_S

Setup Time

TDI to TCK

t_H

Hold Time

TDI to TCK

t_W

Pulse Width

TCK (H or L)

Reset Pulse Width

TRST (L)

t_WL

t_REC

f_MAX

Recovery Time

TCK from TRST

Maximum Clock Frequency, TCK

MHz

www.national.com

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STM32F103C8T6 替代型号

型号	品牌	替代类型	描述	数据表

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型号	品牌	描述	获取价格	数据表
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SCANSTA101SMX	NSC	IC SPECIALTY MICROPROCESSOR CIRCUIT, PBGA49, BGA-49, Microprocessor IC:Other	获取价格
SCANSTA101SMX	TI	Low Voltage IEEE 1149.1 System Test Access (STA) Master 49-NFBGA -40 to 85	获取价格
SCANSTA101SMX/NOPB	TI	低电压 IEEE 1149.1 系统测试访问 (STA) 主设备 \| NZA \| 49 \|	获取价格
SCANSTA101W-QML	TI	SPECIALTY MICROPROCESSOR CIRCUIT, CQCC28, CERQUAD-48	获取价格