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Datasheet > 微控制器和处理器 > 微控制器> MSP430F2013IRSAT
MSP430F2013IRSAT PDF预览

MSP430F2013IRSAT

更新时间： 2024-01-06 12:49:13
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 微控制器
页数 文件大小 规格书
88页 2460K
描述
MIXED SIGNAL MICROCONTROLLER

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MSP430F2013IRSAT 技术参数

是否无铅：不含铅是否Rohs认证：符合
生命周期：Active零件包装代码：QFN
包装说明：QFN-16针数：16
Reach Compliance Code：compliantECCN代码：EAR99
HTS代码：8542.31.00.01Factory Lead Time：1 week
风险等级：0.72Is Samacsys：N
具有ADC：YES其他特性：IT ALSO OPERATES AT 1.8 V AT 6 MHZ
地址总线宽度：位大小：16
边界扫描：YESCPU系列：MSP430
最大时钟频率：16 MHzDAC 通道：NO
DMA 通道：NO外部数据总线宽度：
格式：FIXED POINT集成缓存：NO
JESD-30 代码：S-PQCC-N16JESD-609代码：e4
长度：4 mm低功率模式：YES
湿度敏感等级：2DMA 通道数量：
I/O 线路数量：10串行 I/O 数：
端子数量：16计时器数量：2
片上数据RAM宽度：8片上程序ROM宽度：8
最高工作温度：105 °C最低工作温度：-40 °C
PWM 通道：YES封装主体材料：PLASTIC/EPOXY
封装代码：HVQCCN封装等效代码：LCC16,.16SQ,25
封装形状：SQUARE封装形式：CHIP CARRIER, HEAT SINK/SLUG, VERY THIN PROFILE
峰值回流温度（摄氏度）：260电源：2/3.3 V
认证状态：Not QualifiedRAM（字节）：128
RAM（字数）：0.125ROM（单词）：2048
ROM可编程性：FLASH座面最大高度：1 mm
速度：16 MHz子类别：Microcontrollers
最大压摆率：0.37 mA最大供电电压：3.6 V
最小供电电压：1.8 V标称供电电压：2.2 V
表面贴装：YES技术：CMOS
温度等级：INDUSTRIAL端子面层：Nickel/Palladium/Gold (Ni/Pd/Au)
端子形式：NO LEAD端子节距：0.65 mm
端子位置：QUAD处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED
宽度：4 mmuPs/uCs/外围集成电路类型：MICROCONTROLLER, RISC
Base Number Matches：1

MSP430F2013IRSAT 数据手册

 浏览型号MSP430F2013IRSAT的Datasheet PDF文件第4页浏览型号MSP430F2013IRSAT的Datasheet PDF文件第5页浏览型号MSP430F2013IRSAT的Datasheet PDF文件第6页浏览型号MSP430F2013IRSAT的Datasheet PDF文件第8页浏览型号MSP430F2013IRSAT的Datasheet PDF文件第9页浏览型号MSP430F2013IRSAT的Datasheet PDF文件第10页 
MSP430x20x1, MSP430x20x2, MSP430x20x3  
MIXED SIGNAL MICROCONTROLLER  
SLAS491D -- AUGUST 2005 -- REVISED SEPTEMBER 2007  
Terminal Functions, MSP430x20x1  
TERMINAL  
PW or N  
RSA  
NO.  
1
DESCRIPTION  
NAME  
I/O  
NO.  
P1.0/TACLK/ACLK/CA0  
2
I/O General-purpose digital I/O pin  
Timer_A, clock signal TACLK input  
ACLK signal ouput  
Comparator_A+, CA0 input  
P1.1/TA0/CA1  
P1.2/TA1/CA2  
3
4
2
3
I/O General-purpose digital I/O pin  
Timer_A, capture: CCI0A input, compare: Out0 output  
Comparator_A+, CA1 input  
I/O General-purpose digital I/O pin  
Timer_A, capture: CCI1A input, compare: Out1 output  
Comparator_A+, CA2 input  
P1.3/CAOUT/CA3  
5
6
4
5
I/O General-purpose digital I/O pin  
Comparator_A+, output / CA3 input  
P1.4/SMCLK/C4/TCK  
I/O General-purpose digital I/O pin  
SMCLK signal output  
Comparator_A+, CA4 input  
JTAG test clock, input terminal for device programming and test  
P1.5/TA0/CA5/TMS  
P1.6/TA1/CA6/TDI/TCLK  
P1.7/CAOUT/CA7/TDO/TDI  
XIN/P2.6/TA1  
7
8
6
7
I/O General-purpose digital I/O pin  
Timer_A, compare: Out0 output  
Comparator_A+, CA5 input  
JTAG test mode select, input terminal for device programming and test  
I/O General-purpose digital I/O pin  
Timer_A, compare: Out1 output  
Comparator_A+, CA6 input  
JTAG test data input or test clock input during programming and test  
†
9
8
I/O General-purpose digital I/O pin  
Comparator_A+, output / CA7 input  
JTAG test data output terminal or test data input during programming and  
test  
13  
12  
I/O Input terminal of crystal oscillator  
General-purpose digital I/O pin  
Timer_A, compare: Out1 output  
XOUT/P2.7  
12  
10  
11  
11  
9
I/O Output terminal of crystal oscillator  
General-purpose digital I/O pin  
RST/NMI/SBWTDIO  
TEST/SBWTCK  
I
Reset or nonmaskable interrupt input  
Spy-Bi-Wire test data input/output during programming and test  
10  
I
Selects test mode for JTAG pins on Port1. The device protection fuse is  
connected to TEST.  
Spy-Bi-Wire test clock input during programming and test  
V
V
1
16  
14  
Supply voltage  
Ground reference  
Not connected  
CC  
SS  
14  
NA  
NA  
NC  
13, 15  
QFN Pad  
Package  
Pad  
NA QFN package pad connection to V recommended.  
SS  
†
TDO or TDI is selected via JTAG instruction.  
NOTE: If XOUT/P2.7 is used as an input, excess current will flow until P2SEL.7 is cleared. This is due to the oscillator output driver connection  
to this pad after reset.  
7
POST OFFICE BOX 655303 • DALLAS, TEXAS 75265  
1...45678910...88

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