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K4S560832E-UC75

更新时间: 2023-12-18 00:00:00
品牌 Logo 应用领域
三星 - SAMSUNG 存储内存集成电路光电二极管电子动态存储器时钟
页数 文件大小 规格书
14页 200K
描述
256Mb E-die SDRAM Specification 54 TSOP-II with Pb-Free (RoHS compliant)

K4S560832E-UC75 技术参数

是否Rohs认证:符合生命周期:Obsolete
Reach Compliance Code:unknown风险等级:5.8
Is Samacsys:N最长访问时间:5.4 ns
最大时钟频率 (fCLK):133 MHzI/O 类型:COMMON
交错的突发长度:1,2,4,8JESD-30 代码:R-PDSO-G54
JESD-609代码:e6内存密度:268435456 bit
内存集成电路类型:SYNCHRONOUS DRAM内存宽度:8
湿度敏感等级:3端子数量:54
字数:33554432 words字数代码:32000000
最高工作温度:70 °C最低工作温度:
组织:32MX8输出特性:3-STATE
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装代码:TSOP
封装等效代码:TSOP54,.46,32封装形状:RECTANGULAR
封装形式:SMALL OUTLINE, THIN PROFILE电源:3.3 V
认证状态:Not Qualified刷新周期:8192
连续突发长度:1,2,4,8,FP最大待机电流:0.002 A
子类别:DRAMs最大压摆率:0.18 mA
标称供电电压 (Vsup):3.3 V表面贴装:YES
技术:CMOS温度等级:COMMERCIAL
端子面层:Tin/Bismuth (Sn96Bi4)端子形式:GULL WING
端子节距:0.8 mm端子位置:DUAL
Base Number Matches:1

K4S560832E-UC75 数据手册

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CMOS SDRAM  
SDRAM 256Mb E-die (x4, x8, x16)  
256Mb E-die SDRAM Specification  
54 TSOP-II with Pb-Free  
(RoHS compliant)  
Revision 1.3  
August 2004  
* Samsung Electronics reserves the right to change products or specification without notice.  
Rev. 1.3 August 2004  

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