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K4S280832E-TL75T

更新时间: 2024-01-29 20:51:15
品牌 Logo 应用领域
三星 - SAMSUNG 存储内存集成电路光电二极管电子动态存储器时钟
页数 文件大小 规格书
14页 146K
描述
Synchronous DRAM, 16MX8, 5.4ns, CMOS, PDSO54

K4S280832E-TL75T 技术参数

是否无铅: 含铅是否Rohs认证: 不符合
生命周期:Obsolete包装说明:TSOP, TSOP54,.46,32
Reach Compliance Code:compliant风险等级:5.92
最长访问时间:5.4 ns最大时钟频率 (fCLK):133 MHz
I/O 类型:COMMON交错的突发长度:1,2,4,8
JESD-30 代码:R-PDSO-G54内存密度:134217728 bit
内存集成电路类型:SYNCHRONOUS DRAM内存宽度:8
湿度敏感等级:1端子数量:54
字数:16777216 words字数代码:16000000
最高工作温度:70 °C最低工作温度:
组织:16MX8输出特性:3-STATE
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装代码:TSOP
封装等效代码:TSOP54,.46,32封装形状:RECTANGULAR
封装形式:SMALL OUTLINE, THIN PROFILE峰值回流温度(摄氏度):225
电源:3.3 V认证状态:Not Qualified
刷新周期:4096连续突发长度:1,2,4,8,FP
最大待机电流:0.002 A子类别:DRAMs
最大压摆率:0.2 mA标称供电电压 (Vsup):3.3 V
表面贴装:YES技术:CMOS
温度等级:COMMERCIAL端子形式:GULL WING
端子节距:0.8 mm端子位置:DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIEDBase Number Matches:1

K4S280832E-TL75T 数据手册

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CMOS SDRAM  
SDRAM 128Mb E-die (x4, x8, x16)  
128Mb E-die SDRAM Specification  
Revision 1.4  
February 2004  
* Samsung Electronics reserves the right to change products or specification without notice.  
Rev. 1.4 February. 2004  

与K4S280832E-TL75T相关器件

型号 品牌 描述 获取价格 数据表
K4S280832E-TL7C0 SAMSUNG Synchronous DRAM, 16MX8, 5.4ns, CMOS, PDSO54, 0.400 X 0.875 INCH, 0.80 MM PITCH, TSOP2-54

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K4S280832F-TC75 SAMSUNG 128Mb F-die SDRAM Specification

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K4S280832F-TC750 SAMSUNG Synchronous DRAM, 16MX8, 5.4ns, CMOS, PDSO54, TSOP2-54

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K4S280832F-TC75T SAMSUNG 暂无描述

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