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HCS253K

更新时间： 2024-02-25 17:01:35

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英特矽尔 - INTERSIL		复用器
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10页	181K
描述
Radiation Hardened Dual 4-Input Multiplexer

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HCS253K 技术参数

是否Rohs认证：	不符合	生命周期：	Transferred
包装说明：	DFP, FL16,.3	Reach Compliance Code：	unknown
HTS代码：	8542.39.00.01	风险等级：	5.7
系列：	HC/UH	JESD-30 代码：	R-CDFP-F16
JESD-609代码：	e0	负载电容（CL）：	50 pF
逻辑集成电路类型：	MULTIPLEXER	功能数量：	2
输入次数：	4	输出次数：	1
端子数量：	16	最高工作温度：	125 °C
最低工作温度：	-55 °C	输出特性：	3-STATE
输出极性：	TRUE	封装主体材料：	CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED
封装代码：	DFP	封装等效代码：	FL16,.3
封装形状：	RECTANGULAR	封装形式：	FLATPACK
电源：	5 V	Prop。Delay @ Nom-Sup：	24 ns
传播延迟（tpd）：	31 ns	认证状态：	Not Qualified
筛选级别：	38535V;38534K;883S	子类别：	Multiplexer/Demultiplexers
最大供电电压 (Vsup)：	5.5 V	最小供电电压 (Vsup)：	4.5 V
标称供电电压 (Vsup)：	5 V	表面贴装：	YES
技术：	CMOS	温度等级：	MILITARY
端子面层：	Tin/Lead (Sn/Pb)	端子形式：	FLAT
端子节距：	1.27 mm	端子位置：	DUAL
总剂量：	200k Rad(Si) V	Base Number Matches：	1

HCS253K 数据手册

Speciﬁcations HCS253MS

TABLE 6. APPLICABLE SUBGROUPS

CONFORMANCE GROUPS

Initial Test (Preburn-In)

METHOD

100%/5004

Sample/5005

GROUP A SUBGROUPS

READ AND RECORD

ICC, IOL/H

1, 7, 9

Interim Test I (Postburn-In)

Interim Test II (Postburn-In)

PDA

ICC, IOL/H

1, 7, 9

1, 7, 9, Deltas

Interim Test III (Postburn-In)

PDA

1, 7, 9

ICC, IOL/H

1, 7, 9, Deltas

Final Test

2, 3, 8A, 8B, 10, 11

1, 2, 3, 7, 8A, 8B, 9, 10, 11

1, 2, 3, 7, 8A, 8B, 9, 10, 11, Deltas

Group A (Note 1)

Group B

Subgroup B-5

Subgroups 1, 2, 3, 9, 10, 11,

(Note 2)

Subgroup B-6

Sample/5005

1, 7, 9

Group D

NOTES:

1. Alternate group A inspection in accordance with Method 5005 of MIL-STD-883 may be exercised.

2. Table 5 parameters only.

TABLE 7. TOTAL DOSE IRRADIATION

TEST

READ AND RECORD

CONFORMANCE

GROUPS

Group E Subgroup 2

NOTE:

METHOD

PRE RAD

POST RAD

PRE RAD

1, 9

POST RAD

5005

1, 7, 9

Table 4

Table 4 (Note 1)

1. Except FN test which will be performed 100% Go/No-Go.

TABLE 8. STATIC AND DYNAMIC BURN-IN TEST CONNECTIONS

OSCILLATOR

OPEN

STATIC BURN-IN I TEST CONNECTIONS (Note 1)

7, 9 1 - 6, 8, 10 - 15

STATIC BURN-IN II TEST CONNECTIONS (Note 1)

7, 9

DYNAMIC BURN-IN TEST CONNECTIONS (Note 2)

1, 8, 15

GROUND

1/2 VCC = 3V ± 0.5V

VCC = 6V ± 0.5V

50kHz

25kHz

1 - 6, 10 -16

7, 9

3 - 6, 10 - 14

NOTES:

1. Each pin except VCC and GND will have a resistor of 10KΩ ± 5% for static burn-in

2. Each pin except VCC and GND will have a resistor of 680Ω ± 5% for dynamic burn-in

TABEL 9. IRRADIATION TEST CONNECTIONS

OPEN

GROUND

VCC = 5V ± 0.5V

1 - 6, 10 - 16

7, 9

NOTE: Each pin except VCC and GND will have a resistor of 47KΩ ± 5% for irradiation testing.

Group E, Subgroup 2, sample size is 4 dice/wafer 0 failures.

Spec Number 518765

1...3 4 567 8 9 10

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型号	品牌	描述	获取价格	数据表
HCS253K/SAMPLE	RENESAS	HC/UH SERIES, DUAL 4 LINE TO 1 LINE MULTIPLEXER, TRUE OUTPUT, CDFP16	获取价格
HCS253KMSR	INTERSIL	Radiation Hardened Dual 4-Input Multiplexer	获取价格
HCS253KMSR	RENESAS	HC/UH SERIES, DUAL 4 LINE TO 1 LINE MULTIPLEXER, TRUE OUTPUT, CDFP16	获取价格
HCS253MS	INTERSIL	Radiation Hardened Dual 4-Input Multiplexer	获取价格
HCS273D	INTERSIL	Radiation Hardened Octal D Flip-Flop	获取价格
HCS273DMSR	INTERSIL	Radiation Hardened Octal D Flip-Flop	获取价格

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