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ESD5111FCT5G

更新时间： 2024-11-19 01:04:47
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安森美 - ONSEMI 局域网测试二极管
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7页 149K
描述
ESD Protection Diodes

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ESD5111FCT5G 技术参数

是否无铅： 不含铅生命周期：Active
包装说明：R-PBCC-N2Reach Compliance Code：compliant
Factory Lead Time：4 weeks风险等级：1.57
其他特性：EXCELLENT CLAMPING CAPABILITY, LOW CAPACITANCE最大击穿电压：6.5 V
最小击穿电压：3.68 V击穿电压标称值：5 V
最大钳位电压：6.5 V配置：SINGLE
二极管元件材料：SILICON二极管类型：TRANS VOLTAGE SUPPRESSOR DIODE
JESD-30 代码：R-PBCC-N2元件数量：1
端子数量：2最高工作温度：125 °C
最低工作温度：-55 °C封装主体材料：PLASTIC/EPOXY
封装形状：RECTANGULAR封装形式：CHIP CARRIER
极性：BIDIRECTIONAL参考标准：IEC-61000-4-2
最大重复峰值反向电压：3.3 V最大反向电流：0.1 µA
反向测试电压：3.3 V表面贴装：YES
技术：AVALANCHE端子形式：NO LEAD
端子位置：BOTTOMBase Number Matches：1

ESD5111FCT5G 数据手册

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ESD5101, ESD5111  
ESD Protection Diodes  
Micro−packaged Diodes for ESD  
Protection  
The ESD51x1 Series is designed to protect voltage sensitive  
components from ESD. Excellent clamping capability, low leakage,  
and fast response time provide best in class protection on designs that  
are exposed to ESD. Because of its small size, it is suited for use in  
smartphone, smart-watch, or many other portable / wearable  
applications where board space comes at a premium.  
www.onsemi.com  
MARKING  
DIAGRAMS  
ESD5101 (01005)  
DSN2  
Features  
L
• Low Capacitance (5 pF Max, I/O to GND)  
CASE 152AK  
• Small Body Outline Dimensions  
♦ 01005 Size: 0.435 x 0.23 mm  
♦ 0201 Size: 0.6 x 0.3 mm  
ESD5111 (0201)  
WLCSP2  
CASE 567AV  
E
• Protection for the Following IEC Standards:  
IEC 61000−4−2 (Level 4)  
ESD5111P (0201)  
WLCSP2  
CASE 152AX  
• Low ESD Clamping Voltage  
• These Devices are Pb−Free, Halogen Free/BFR Free and are RoHS  
Compliant  
L, E, P = Device Code  
MAXIMUM RATINGS (T = 25°C unless otherwise noted)  
J
PIN CONFIGURATION  
AND SCHEMATIC  
Rating  
Symbol  
Value  
−55 to +125  
−55 to +150  
260  
Unit  
°C  
Operating Junction Temperature Range  
Storage Temperature Range  
T
J
T
stg  
°C  
1
2
Lead Solder Temperature −  
Maximum (10 Seconds)  
T
L
°C  
IEC 61000−4−2 Contact (ESD)  
IEC 61000−4−2 Air (ESD)  
ESD  
ESD  
15  
15  
kV  
kV  
=
Stresses exceeding those listed in the Maximum Ratings table may damage the  
device. If any of these limits are exceeded, device functionality should not be  
assumed, damage may occur and reliability may be affected.  
See Application Note AND8308/D for further description of  
survivability specs.  
ORDERING INFORMATION  
See detailed ordering and shipping information on page 2 of  
this data sheet.  
© Semiconductor Components Industries, LLC, 2016  
1
Publication Order Number:  
June, 2016 − Rev. 4  
ESD5101/D  
1234567

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型号 品牌 获取价格 描述 数据表
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