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AD9552BCPZ

更新时间： 2024-02-10 09:14:23

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亚德诺 - ADI		振荡器 ATM集成电路 SONET集成电路 SDH集成电路电信集成电路电信电路异步传输模式 PC
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32页	477K
描述
Oscillator Frequency Upconverter

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AD9552BCPZ 技术参数

是否无铅：	含铅	是否Rohs认证：	符合
生命周期：	Active	零件包装代码：	QFN
包装说明：	HVQCCN, LCC32,.2SQ,20	针数：	32
Reach Compliance Code：	compliant	ECCN代码：	EAR99
HTS代码：	8542.39.00.01	风险等级：	1.48
Samacsys Confidence：		Samacsys Status：	Released
Schematic Symbol：	https://componentsearchengine.com/symbol.php?partID=372609	PCB Footprint：	https://componentsearchengine.com/footprint.php?partID=372609
Samacsys PartID：	372609	Samacsys Image：	https://componentsearchengine.com/Images/9/AD9552BCPZ.jpg
Samacsys Thumbnail Image：	https://componentsearchengine.com/Thumbnails/1/AD9552BCPZ.jpg	Samacsys Pin Count：	33
Samacsys Part Category：	Integrated Circuit	Samacsys Package Category：	Other
Samacsys Footprint Name：	QFN50P500X500X100-33N	Samacsys Released Date：	2017-01-11 11:21:59
Is Samacsys：	N	应用程序：	SONET;SDH
JESD-30 代码：	S-XQCC-N32	JESD-609代码：	e3
长度：	5 mm	湿度敏感等级：	3
功能数量：	1	端子数量：	32
最高工作温度：	85 °C	最低工作温度：	-40 °C
封装主体材料：	UNSPECIFIED	封装代码：	HVQCCN
封装等效代码：	LCC32,.2SQ,20	封装形状：	SQUARE
封装形式：	CHIP CARRIER, HEAT SINK/SLUG, VERY THIN PROFILE	峰值回流温度（摄氏度）：	260
电源：	3.3 V	认证状态：	Not Qualified
座面最大高度：	1 mm	子类别：	Other Telecom ICs
最大压摆率：	0.169 mA	标称供电电压：	3.3 V
表面贴装：	YES	技术：	CMOS
电信集成电路类型：	ATM/SONET/SDH SUPPORT CIRCUIT	温度等级：	INDUSTRIAL
端子面层：	Matte Tin (Sn)	端子形式：	NO LEAD
端子节距：	0.5 mm	端子位置：	QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间：	40	宽度：	5 mm
Base Number Matches：	1

AD9552BCPZ 数据手册

AD9552

ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS

ESD CAUTION

Table 7.

Parameter

Rating

Supply Voltage (VDD)

3.6 V

Maximum Digital Input Voltage

Storage Temperature

Operating Temperature Range

Lead Temperature (Soldering, 10 sec)

Junction Temperature

−0.5 V to VDD + 0.5 V

−65°C to +150°C

−40°C to +85°C

300°C

150°C

Stresses above those listed under Absolute Maximum Ratings

may cause permanent damage to the device. This is a stress

rating only; functional operation of the device at these or any

other conditions above those indicated in the operational

section of this specification is not implied. Exposure to absolute

maximum rating conditions for extended periods may affect

device reliability.

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