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935318092574

更新时间： 2024-02-04 05:28:06

品牌	Logo	应用领域
恩智浦 - NXP		时钟微控制器外围集成电路
页数	文件大小	规格书
38页	1038K
描述
Microcontroller

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技术参数
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935318092574 技术参数

生命周期：	Active	包装说明：	SOP,
Reach Compliance Code：	unknown	风险等级：	5.6
具有ADC：	YES	地址总线宽度：
位大小：	8	最大时钟频率：	20 MHz
DMA 通道：	NO	外部数据总线宽度：
长度：	12.8 mm	I/O 线路数量：	18
端子数量：	20	PWM 通道：	YES
封装代码：	SOP	封装形状：	RECTANGULAR
封装形式：	SMALL OUTLINE	速度：	20 MHz
最大供电电压：	5.5 V	最小供电电压：	2.7 V
标称供电电压：	5 V	表面贴装：	YES
端子形式：	GULL WING	端子节距：	1.27 mm
端子位置：	DUAL	宽度：	7.5 mm
uPs/uCs/外围集成电路类型：	MICROCONTROLLER	Base Number Matches：	1

935318092574 数据手册

Ratings

4 Ratings

4.1 Thermal handling ratings

Symbol

T_STG

Description

Min.

–55

—

Max.

150

Unit

°C

Notes

Storage temperature

Solder temperature, lead-free

T_SDR

260

°C

1. Determined according to JEDEC Standard JESD22-A103, High Temperature Storage Life.

2. Determined according to IPC/JEDEC Standard J-STD-020, Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Nonhermetic

Solid State Surface Mount Devices.

4.2 Moisture handling ratings

Symbol

Description

Min.

Max.

Unit

Notes

MSL

Moisture sensitivity level

—

1. Determined according to IPC/JEDEC Standard J-STD-020, Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Nonhermetic

Solid State Surface Mount Devices.

4.3 ESD handling ratings

Symbol

V_HBM

V_CDM

I_LAT

Description

Min.

-6000

-500

Max.

+6000

+500

Unit

Notes

Electrostatic discharge voltage, human body model

Electrostatic discharge voltage, charged-device model

Latch-up current at ambient temperature of 105°C

-100

+100

1. Determined according to JEDEC Standard JESD22-A114, Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Human Body

Model (HBM).

2. Determined according to JEDEC Standard JESD22-C101, Field-Induced Charged-Device Model Test Method for

Electrostatic-Discharge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components.

4.4 Voltage and current operating ratings

Absolute maximum ratings are stress ratings only, and functional operation at the

maxima is not guaranteed. Stress beyond the limits specified in below table may affect

device reliability or cause permanent damage to the device. For functional operating

conditions, refer to the remaining tables in this document.

MC9S08PT60 Series Data Sheet, Rev. 5, 06/2015

Freescale Semiconductor, Inc.

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