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ZMM5227 PDF预览

ZMM5227

更新时间： 2024-01-12 05:13:38
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页数 文件大小 规格书
3页 414K
描述
0.5W SILICON PLANAR ZENER DIODES

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ZMM5227 技术参数

是否无铅： 含铅是否Rohs认证： 不符合
生命周期：Obsolete零件包装代码：MELF
包装说明：O-LELF-R2针数：2
Reach Compliance Code：unknownECCN代码：EAR99
HTS代码：8541.10.00.50风险等级：5.54
外壳连接：ISOLATED配置：SINGLE
二极管元件材料：SILICON二极管类型：ZENER DIODE
JESD-30 代码：O-LELF-R2JESD-609代码：e0
元件数量：1端子数量：2
封装主体材料：GLASS封装形状：ROUND
封装形式：LONG FORM峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED
极性：UNIDIRECTIONAL最大功率耗散：0.5 W
认证状态：Not Qualified标称参考电压：3.6 V
表面贴装：YES技术：ZENER
端子面层：TIN LEAD端子形式：WRAP AROUND
端子位置：END处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED
最大电压容差：20%工作测试电流：20 mA

ZMM5227 数据手册

 浏览型号ZMM5227的Datasheet PDF文件第1页浏览型号ZMM5227的Datasheet PDF文件第3页 
ZMM5221...ZMM5262 SILICON PLANAR ZENER DIODES  
Maximum  
Regulator  
Current2)  
Nominal  
Typical  
Temperature  
Coefficient  
Test  
Current  
Maximum zener  
impedance1)  
Zener  
Maximum Reverse Leakage Current  
Voltage  
Type  
at  
Iz  
at  
Iz  
ZK Iz  
Test-Voltage  
Suffix B  
at  
T
k
=0.25mA  
mA  
Suffix A  
IZM mA  
IZT mA  
IR μA  
αVZ %/K  
IzT  
VRV  
VzV  
Z
ZT Ω  
Z
T
VRV  
ZMM5221  
ZMM5222  
ZMM5223  
ZMM5224  
ZMM5225  
ZMM5226  
ZMM5227  
ZMM5228  
2.4  
2.5  
2.7  
2.8  
3.0  
3.3  
3.6  
3.9  
20  
20  
20  
20  
20  
20  
20  
20  
30  
30  
30  
30  
29  
28  
24  
23  
1200  
1250  
1300  
1400  
1600  
1600  
1700  
1900  
-0.085  
-0.085  
-0.080  
-0.080  
-0.075  
-0.070  
-0.065  
-0.060  
100  
100  
75  
0.95  
0.95  
0.95  
0.95  
0.95  
0.95  
0.95  
0.95  
1.0  
1.0  
1.0  
1.0  
1.0  
1.0  
1.0  
1.0  
191  
182  
168  
162  
152  
138  
126  
115  
75  
50  
25  
15  
10  
ZMM5229  
ZMM5230  
4.3  
4.7  
20  
20  
22  
19  
2000  
1900  
-0.055  
5
5
0.95  
1.9  
1.0  
2.0  
106  
97  
±0.030  
±0.030  
+0.038  
+0.038  
ZMM5231  
ZMM5232  
ZMM5233  
5.1  
5.6  
6.0  
20  
20  
20  
17  
11  
7
1600  
1600  
1600  
5
5
5
1.9  
2.9  
3.3  
2.0  
3.0  
3.5  
89  
81  
76  
ZMM5234  
ZMM5235  
6.2  
6.8  
20  
20  
7
5
1000  
750  
+0.045  
+0.050  
5
3
3.8  
4.8  
4.0  
5.0  
73  
67  
ZMM5236  
ZMM5237  
ZMM5238  
ZMM5239  
7.5  
8.2  
8.7  
9.1  
20  
20  
20  
20  
6
8
500  
500  
600  
600  
+0.058  
+0.062  
+0.065  
+0.068  
3
3
3
3
5.7  
6.2  
6.2  
6.7  
6.0  
6.5  
6.5  
7.0  
61  
55  
52  
50  
8
10  
ZMM5240  
ZMM5241  
10  
11  
20  
20  
17  
22  
600  
600  
+0.075  
+0.076  
3
2
7.6  
8.0  
8.0  
8.4  
45  
41  
ZMM5242  
ZMM5243  
ZMM5244  
12  
13  
14  
20  
9.5  
9.0  
30  
13  
15  
600  
600  
600  
+0.077  
+0.079  
+0.082  
1
8.7  
9.4  
9.5  
9.1  
9.9  
10  
38  
35  
32  
0.5  
0.1  
ZMM5245  
ZMM5246  
ZMM5247  
ZMM5248  
15  
16  
17  
18  
8.5  
7.8  
7.4  
7.0  
16  
17  
19  
21  
600  
600  
600  
600  
+0.082  
+0.083  
+0.084  
+0.085  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
10.5  
11.4  
12.4  
13.3  
11  
12  
13  
14  
30  
28  
27  
25  
ZMM5249  
ZMM5250  
ZMM5251  
ZMM5252  
ZMM5253  
ZMM5254  
19  
20  
22  
24  
25  
27  
6.6  
6.2  
5.6  
5.2  
5.0  
4.6  
23  
25  
29  
33  
35  
41  
600  
600  
600  
600  
600  
600  
+0.086  
+0.086  
+0.087  
+0.087  
+0.089  
+0.090  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
13.3  
14.3  
16.2  
17.1  
18.1  
20  
14  
15  
17  
18  
19  
21  
24  
23  
21  
19.1  
18.2  
16.8  
ZMM5255  
ZMM5256  
28  
30  
4.5  
4.2  
44  
49  
600  
600  
+0.091  
+0.091  
0.1  
0.1  
20  
22  
21  
23  
16.2  
15.1  
ZMM5257  
ZMM5258  
33  
36  
3.8  
3.4  
58  
70  
700  
700  
+0.092  
+0.093  
0.1  
0.1  
24  
26  
25  
27  
13.8  
12.6  
ZMM5259  
ZMM5260  
ZMM5261  
ZMM5262  
39  
43  
47  
51  
3.2  
3.0  
2.7  
2.5  
80  
93  
800  
900  
+0.094  
+0.095  
+0.095  
+0.096  
0.1  
0.1  
0.1  
0.1  
29  
31  
34  
37  
30  
33  
36  
39  
11.6  
10.6  
9.7  
105  
125  
1000  
1100  
8.9  
1) The zener impedance is derived from the 1kHz AC voltage which results when on AC current having an RMS value equal to 10% of the Zener  
current (Iz or Iz ) is superimposed on Iz or Iz Zener impedance is measured at two points to insure a sharp knee on the breakdown curve  
and to eliminate unstable units.  
T
K
T
K
2) Vaild provided that leads are kept at ambient temperature at a distance of 8mm from case.  
3) Measured with device junction in thermal equilibrium.  
123

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