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TC7WG17FK

更新时间： 2024-09-28 04:28:47
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东芝 - TOSHIBA /
页数 文件大小 规格书
7页 188K
描述
CMOS Digital Integrated Circuit Silicon Monolithic Triple Schmitt Buffer

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TC7WG17FK 技术参数

是否Rohs认证： 不符合生命周期：End Of Life
零件包装代码：SOIC包装说明：VSSOP, TSSOP8,.12,20
针数：8Reach Compliance Code：unknown
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.66
系列：LVPJESD-30 代码：R-PDSO-G8
JESD-609代码：e0长度：2.3 mm
负载电容（CL）：30 pF逻辑集成电路类型：BUFFER
最大I（ol）：0.003 A功能数量：3
输入次数：1端子数量：8
最高工作温度：85 °C最低工作温度：-40 °C
封装主体材料：PLASTIC/EPOXY封装代码：VSSOP
封装等效代码：TSSOP8,.12,20封装形状：RECTANGULAR
封装形式：SMALL OUTLINE, VERY THIN PROFILE, SHRINK PITCH电源：1.2/3.3 V
Prop。Delay @ Nom-Sup：59.6 ns传播延迟（tpd）：59.6 ns
认证状态：Not Qualified施密特触发器：YES
座面最大高度：0.8 mm子类别：Gates
最大供电电压 (Vsup)：3.6 V最小供电电压 (Vsup)：0.9 V
标称供电电压 (Vsup)：3 V表面贴装：YES
技术：CMOS温度等级：INDUSTRIAL
端子面层：TIN LEAD端子形式：GULL WING
端子节距：0.5 mm端子位置：DUAL
宽度：2 mmBase Number Matches：1

TC7WG17FK 数据手册

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TC7WG17FU/FK  
TOSHIBA CMOS Digital Integrated Circuit Silicon Monolithic  
TC7WG17FU,TC7WG17FK  
Triple Schmitt Buffer  
Features  
•
•
High-level output current:  
I
/I = ±8 mA (min)  
OH OL  
TC7WG17FU  
at V  
= 3 V  
CC  
High-speed operation: t = 4.0 ns (typ.)  
pd  
at V  
= 3.3 V,15pF  
CC  
•
•
•
Operating voltage range: V  
5.5-V tolerant inputs  
= 0.9~3.6 V  
CC  
3.6-V power down protection outputs  
TC7WG17FK  
Marking  
SM8  
G 17  
US8  
Product name  
Lot No.  
WG  
17  
Weight  
SSOP8-P-0.65 : 0.02 g (typ.)  
SSOP8-P-0.50A : 0.01 g (typ.)  
Absolute Maximum Ratings (Ta = 25°C)  
Pin Assignment (top view)  
Characteristics  
Power supply voltage  
Symbol  
Value  
Unit  
V
−0.5~4.6  
V
V
CC  
1A  
3Y  
V
CC  
1
2
3
4
8
7
6
5
DC input voltage  
V
−0.5~7.0  
IN  
−0.5~ 4.6 (Note 1)  
1Y  
3A  
2Y  
DC output voltage  
V
V
OUT  
−0.5~V  
+ 0.5 (Note 2)  
CC  
2A  
Input diode current  
Output diode current  
DC output current  
I
−20  
mA  
mA  
mA  
mA  
IK  
GND  
I
−20 (Note 3)  
±25  
OK  
I
OUT  
DC V  
/ ground current  
I
±50  
CC  
CC  
300 (SM8)  
200 (US8)  
Power dissipation  
P
mW  
°C  
D
Storage temperature  
T
stg  
−65~150  
Note: Using continuously under heavy loads (e.g. the application of high temperature/current/voltage and the significant  
change in temperature, etc.) may cause this product to decrease in the reliability significantly even if the  
operating conditions (i.e. operating temperature/current/voltage, etc.) are within the absolute maximum ratings  
and the operating ranges.  
Please design the appropriate reliability upon reviewing the Toshiba Semiconductor Reliability Handbook  
(“Handling Precautions”/Derating Concept and Methods) and individual reliability data (i.e. reliability test report  
and estimated failure rate, etc).  
Note 1: V  
= 0V  
CC  
Note 2: High or Low State. I  
absolute maximum rating must be observed.  
OUT  
Note 3: V  
< GND  
OUT  
1
2007-11-01  
1234567

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