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MUX507IDWR

更新时间： 2023-09-03 20:29:56
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德州仪器 - TI 复用器
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43页 1822K
描述
1pA 开路泄漏电流、36V、8:1、2 通道精密模拟多路复用器 | DW | 28 | -40 to 125

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MUX507IDWR 数据手册

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MUX506, MUX507  
ZHCSFU9A –NOVEMBER 2016–REVISED NOVEMBER 2017  
MUX50x 36V 低电容、低泄漏电流、高精度模拟多路复用器  
1 特性  
3 说明  
1
•
低导通电容  
MUX506 和 MUX507 (MUX50x) 是现代互补金属氧化  
物半导体 (CMOS) 模拟多路复用器 (MUX)。MUX506  
提供 16:1 单端通道，而 MUX507 提供 8:1 差分通道  
或双 8:1 单端通道。MUX506 和 MUX507 在由双电源  
（±5V 至 ±18V）或单电源（10V 至 36V）供电时均能  
–
–
MUX506：13.5pF  
MUX507：8.7pF  
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
低输入泄漏：1pA  
低电荷注入：0.31pC  
轨到轨运行  
正常运行。这些器件在由对称电源（如 VDD  
12V，VSS = –12V）和非对称电源（如 VDD  
=
=
宽电源电压范围：±5V 至 ±18V 或 10V 至 36V  
低导通电阻：125Ω  
12V，VSS = –5V）供电时也能保证优异性能。所有数  
字输入具有兼容晶体管-晶体管逻辑电路 (TTL) 的阈  
值。当器件在有效电源电压范围内运行时，该阈值可保  
证 TTL 和 CMOS 逻辑电路的兼容性。  
转换时间：97ns  
先断后合开关操作  
EN 引脚与 VDD 相连  
逻辑电平：2V 至 VDD  
低电源电流：45µA  
MUX507 和 MUX507 的导通和关断泄漏电流较低，允  
许此类多路复用器以最小误差转换高输入阻抗源传输的  
信号。电源电流低至 45µA，支持其应用于功耗敏感型  
应用。  
ESD 保护 HBM：2000V  
行业标准 TSSOP/SOIC 封装  
器件信息(1)  
2 应用  
器件型号  
MUX506  
封装  
TSSOP (28)  
SOIC (28)  
封装尺寸（标称值）  
9.70mm × 6.40mm  
17.9mm × 7.50mm  
•
•
•
•
•
•
工厂自动化和工业过程控制  
可编程逻辑控制器 (PLC)  
模拟输入模块  
MUX507  
(1) 要了解所有可用封装，请参见数据表末尾的封装选项附录。  
自动测试设备 (ATE)  
数字万用表  
电池监控系统  
简化电路原理图  
泄漏电流与温度间的关系  
1000  
ID(ON)+  
IS(OFF)+  
500  
ID(OFF)+  
Bridge Sensor  
Thermocouple  
0
œ
VINP  
ADC  
PGA/INA  
+
MUX507  
-500  
IS(OFF)-  
VINM  
-1000  
ID(OFF)-  
Current  
Sensing  
-1500  
ID(ON)-  
Photo  
LED  
Detector  
Optical Sensor  
-2000  
Copyright © 2017, Texas Instruments Incorporated  
-75  
-50  
-25  
0
25  
50  
75  
100 125 150  
Analog Inputs  
Temperature (èC)  
D006  
1
An IMPORTANT NOTICE at the end of this data sheet addresses availability, warranty, changes, use in safety-critical applications,  
intellectual property matters and other important disclaimers. PRODUCTION DATA.  
English Data Sheet: SBAS803  
 
 
 
 
 
1234567...43

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型号 品牌 获取价格 描述 数据表
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