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LM34DZ/NOPB

更新时间： 2024-01-03 20:05:59
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 温度传感输出元件传感器换能器温度传感器
页数 文件大小 规格书
33页 966K
描述
带华氏刻度的 ±1°F 5V 至 30V 模拟输出温度传感器 | LP | 3 | 0 to 100

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LM34DZ/NOPB 技术参数

是否Rohs认证：符合生命周期：Transferred
包装说明：SIP3,.1,50Reach Compliance Code：compliant
ECCN代码：EAR99HTS代码：8542.39.00.01
风险等级：5.12Is Samacsys：N
主体宽度：3.92 mm主体高度：5.05 mm
主体长度或直径：4.95 mm外壳：PLASTIC
JESD-609代码：e2安装特点：THROUGH HOLE MOUNT
端子数量：3最高工作温度：150 °C
最低工作温度：-45 °C最大输出电压：3 V
最小输出电压：-0.5 V封装主体材料：PLASTIC/EPOXY
封装等效代码：SIP3,.1,50封装形状/形式：ROUND
传感器/换能器类型：TEMPERATURE SENSOR,ANALOG,VOLTAGE OUTPUT子类别：Other Sensors
最大供电电压：30 V最小供电电压：5 V
表面贴装：NO技术：BIPOLAR
温度系数：POSITIVE ppm/ °C端子面层：Tin/Copper (Sn/Cu)
端接类型：SOLDERBase Number Matches：1

LM34DZ/NOPB 数据手册

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LM34  
www.ti.com  
SNIS161D –MARCH 2000–REVISED JANUARY 2016  
6.5 Electrical Characteristics: LM34A and LM34CA  
Unless otherwise noted, these specifications apply: −50°F ≤ TJ ≤ 300°F for the LM34 and LM34A; −40°F ≤ TJ ≤ 230°F for the  
LM34C and LM34CA; and 32°F ≤ TJ ≤ 212°F for the LM34D. VS = 5 Vdc and ILOAD = 50 µA in the circuit of Full-Range  
Fahrenheit Temperature Sensor; 6 Vdc for LM34 and LM34A for 230°F ≤ TJ ≤ 300°F. These specifications also apply from  
5°F to TMAX in the circuit of Basic Fahrenheit Temperature Sensor (5°F to 300°F).  
LM34A  
LM34CA  
PARAMETER  
TEST CONDITIONS  
UNIT  
MIN  
TYP  
MAX  
MIN  
TYP MAX  
Tested Limit(2)  
Design Limit(3)  
–1  
1
–1  
1
TA = 77°F  
T A = 0°F  
TA = TMAX  
TA = TMIN  
°F  
±0.4  
±0.6  
±0.4  
±0.6  
±0.8  
±0.8  
±0.3  
10  
Tested Limit  
Design Limit  
–2  
–2  
2
2
°F  
°F  
Accuracy(1)  
Tested Limit  
Design Limit  
–2  
–2  
2
2
±0.8  
Tested Limit  
Design Limit  
–3  
3
°F  
±0.8  
Tested Limit  
Design Limit  
(4)  
Nonlinearity  
–0.7  
9.9  
0.7  
–0.6  
0.6  
°F  
TA = 77°F  
TA = 77°F  
±0.35  
+10  
Tested Limit  
Design Limit  
10.1  
Sensor gain (Average  
Slope)  
+9.9  
–1  
10.1  
1
mV/°F  
mV/mA  
mV/mA  
mV/V  
mV/V  
Tested Limit  
Design Limit  
–1  
1
TA = 77°F  
0 ≤ IL ≤ 1 mA  
±0.4  
±0.4  
±0.5  
±0.01  
±0.02  
Load regulation(5)  
Tested Limit  
Design Limit  
0 ≤ IL ≤ 1 mA  
–3  
3
–3  
3
±0.5  
Tested Limit  
Design Limit  
–0.05  
0.05 –0.05  
0.05  
TA = 77°F  
5 V ≤ VS ≤ 30 V  
±0.01  
±0.02  
Line regulation(5)  
Tested Limit  
Design Limit  
5 V ≤ VS ≤ 30 V  
–0.1  
0.1  
–0.1  
0.1  
(1) Accuracy is defined as the error between the output voltage and 10 mV/°F times the device’s case temperature at specified conditions of  
voltage, current, and temperature (expressed in °F).  
(2) Tested limits are specified and 100% tested in production.  
(3) Design limits are specified (but not 100% production tested) over the indicated temperature and supply voltage ranges. These limits are  
not used to calculate outgoing quality levels.  
(4) Nonlinearity is defined as the deviation of the output-voltage-versus-temperature curve from the best-fit straight line over the rated  
temperature range of the device.  
(5) Regulation is measured at constant junction temperature using pulse testing with a low duty cycle. Changes in output due to heating  
effects can be computed by multiplying the internal dissipation by the thermal resistance.  
Copyright © 2000–2016, Texas Instruments Incorporated  
Submit Documentation Feedback  
5
Product Folder Links: LM34  
12345678...33

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