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GS81302T07E-300

更新时间: 2024-01-10 18:45:56
品牌 Logo 应用领域
GSI 双倍数据速率静态存储器内存集成电路
页数 文件大小 规格书
31页 435K
描述
DDR SRAM, 16MX8, 0.45ns, CMOS, PBGA165, 15 X 17 MM, 1 MM PITCH, FPBGA-165

GS81302T07E-300 技术参数

是否无铅:含铅是否Rohs认证:不符合
生命周期:Not Recommended零件包装代码:BGA
包装说明:LBGA,针数:165
Reach Compliance Code:compliantECCN代码:3A991.B.2.B
HTS代码:8542.32.00.41风险等级:5.05
Is Samacsys:N最长访问时间:0.45 ns
其他特性:PIPELINED ARCHITECTUREJESD-30 代码:R-PBGA-B165
长度:17 mm内存密度:134217728 bit
内存集成电路类型:DDR SRAM内存宽度:8
功能数量:1端子数量:165
字数:16777216 words字数代码:16000000
工作模式:SYNCHRONOUS最高工作温度:70 °C
最低工作温度:组织:16MX8
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装代码:LBGA
封装形状:RECTANGULAR封装形式:GRID ARRAY, LOW PROFILE
并行/串行:PARALLEL峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED
认证状态:Not Qualified座面最大高度:1.5 mm
最大供电电压 (Vsup):1.9 V最小供电电压 (Vsup):1.7 V
标称供电电压 (Vsup):1.8 V表面贴装:YES
技术:CMOS温度等级:COMMERCIAL
端子形式:BALL端子节距:1 mm
端子位置:BOTTOM处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
宽度:15 mmBase Number Matches:1

GS81302T07E-300 数据手册

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GS81302T07/10/19/37E-450/400/350/333/300  
16M x 9 SigmaDDR-II+ SRAM—Top View  
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CQ  
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(288Mb)  
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BW0  
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SA  
SA  
QVLD  
ODT  
SA  
SA  
NC  
DQ0  
TDI  
TCK  
TMS  
2
11 x 15 Bump BGA—15 x 17 mm Body—1 mm Bump Pitch  
Notes:  
3. BW0 controls writes to DQ0 :DQ8.  
4. Pin B5 is the expansion address.  
Rev: 1.03a 11/2011  
3/31  
© 2011, GSI Technology  
Specifications cited are subject to change without notice. For latest documentation see http://www.gsitechnology.com.  

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