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FHW1008UC033GGT

更新时间： 2023-08-15 00:00:00

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约翰逊 - JOHANSON		/
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描述
General Purpose Inductor, 0.033uH, 2%, 1 Element, Ceramic-Core, SMD, CHIP

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FHW1008UC033GGT 数据手册

Reliability Test (Wire Wound Chip Inductors

Specification

Test Method

0402HC、0603UC、0805UC、

0805UF、1008IF、1210IF、

Item

1008UC、1210HC

1812IF

Operating Temperature Range

Storage Temperature Range

Rating current

-40~+125℃

-40~+85℃

200~1360mA(max)

40~600mA (max)

(current sources)：33010D

(Test Frequency)：0.252~250MHz

(Test Equpment)：HP4291A、 HP4286A、HP4287A、HP4284A

(Test Fixture)：16193A or 16334A

Inductance

1.0~8600nH

16~65(min)

1.2~1000 µH

8~30 (min)

(Test Frequency)：0.252～1500MHz

(Test Equpment)：HP4291A、HP4286A、HP4287A

(Test Fixture)：16193A 16334A

RDC

SRF

0.030~9.000Ω(max)

0.22~22.5 (max)

1.4~350MHz(min)

(Test Equpment)：HP4263B

(Test Equpment)：HP4291A

(Test Fixture)：16193A

40~12500MHz(min)

(Soldering Temp.)：230±5℃

(Dippng time)：5±1S

Solderability

The metalized area must have more then 90% of solder coverage

No evidence of mechanical damage 75%

The metalized area must have more then 75% of solder coverage

±5%。Inductance change less than±5%

(Soldering Temp.)：260±5℃

(Dippng time)：10±1S

Resistance to Soldering heat

Q ±10%。Q change less than ±10%

(A cycle contain)：

(Step 1)：-40℃，30Min

(Step 2)：85℃，30Min

(Cycle Times)：10

。No evidence of mechanical damage

±5%。Inductance change less than±5%

Q ±10%。Q change less than ±10%

Tehermal Shock

(Test Temperature)：

125±2℃( ceramic core)

85±2℃( Ferrite core)

(Test Time)：96±2 小时

。No evidence of mechanical damage

±5%。Inductance change less than±5%

Q ±10%。Q change less than ±10%

High Temperature

Storage

。No evidence of mechanical damage

±5%。Inductance change less than±5%

Q ±10%。Q change less than ±10%

(Test Temperature)：

-40±2℃

Low Temperature

Storage

(Test Time)：96±2Hours

Test Temperature)：50±2℃

(Test Time)：96±2 小时

90~95%

。No evidence of mechanical damage

±5%。Inductance change less than±5%

Q ±10%。Q change less than ±10%

Static Humidity

(with rating current)

。No evidence of mechanical damage

±5%。Inductance change less than±5%

Q ±10%。Q change less than ±10%

。

(Amplitude)：1.5mm

X、Y、Z 1 45

Vibration

(Frequency range)：10~55~10Hz(min)

(Force)：4 Lbs

Component Adhesion

Noevidence of peel off or broken

(Test Time)；10S

(camber )：20mm

(Test Board)： (Glass-Epoxy board)

(Thickness )：0.8mm

No evidence of mechanical damage

Resistance to Bend

(Test Temperature)：85±2℃

(Test Time)：1000Hours

(With rating current)

Life

Inductor shall not have a shorted or openwinding

Note: Electrical Characteristic are to be tested after 24±2 hours at standard (room) conditions.

Inductors

15191 Bledsoe St., Sylmar, CA 91342

Tel (818) 364-9800 • Fax (818) 364-6100

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