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FHW0805UC022JGB

更新时间： 2024-02-14 21:20:41
品牌 Logo 应用领域
约翰逊 - JOHANSON /
页数 文件大小 规格书
6页 346K
描述
General Purpose Inductor, 0.022uH, 5%, 1 Element, Ceramic-Core, SMD, CHIP

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FHW0805UC022JGB 技术参数

生命周期：ObsoleteReach Compliance Code：unknown
ECCN代码：EAR99HTS代码：8504.50.80.00
风险等级：5.84Is Samacsys：N
型芯材料：CERAMIC直流电阻：0.22 Ω
标称电感 (L)：0.022 µH电感器应用：RF INDUCTOR
电感器类型：GENERAL PURPOSE INDUCTOR功能数量：1
端子数量：2最高工作温度：125 °C
最低工作温度：-40 °C最小质量因数（标称电感时）：55
最大额定电流：0.5 A自谐振频率：2600 MHz
形状/尺寸说明：RECTANGULAR PACKAGE屏蔽：NO
特殊特征：Q MEASURED AT 500 MHZ表面贴装：YES
端子位置：DUAL ENDED端子形状：WRAPAROUND
测试频率：250 MHz容差：5%
Base Number Matches：1

FHW0805UC022JGB 数据手册

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Reliability Test (Wire Wound Chip Inductors  
Specification  
Test Method  
0402HC、0603UC、0805UC、  
0805UF、1008IF、1210IF、  
Item  
1008UC、1210HC  
1812IF  
1
2
3
Operating Temperature Range  
Storage Temperature Range  
Rating current  
-40~+125℃  
-40~+125℃  
-40~+85℃  
-40~+85℃  
200~1360mA(max)  
40~600mA (max)  
(current sources)：33010D  
(Test Frequency)：0.252~250MHz  
(Test Equpment)：HP4291A、 HP4286A、HP4287A、HP4284A  
(Test Fixture)：16193A or 16334A  
4
Inductance  
1.0~8600nH  
16~65(min)  
1.2~1000 µH  
8~30 (min)  
(Test Frequency)：0.252～1500MHz  
(Test Equpment)：HP4291A、HP4286A、HP4287A  
(Test Fixture)：16193A 16334A  
5
Q
6
7
RDC  
SRF  
0.030~9.000Ω(max)  
0.22~22.5 (max)  
1.4~350MHz(min)  
(Test Equpment)：HP4263B  
(Test Equpment)：HP4291A  
(Test Fixture)：16193A  
40~12500MHz(min)  
(Soldering Temp.)：230±5℃  
(Dippng time)：5±1S  
8
Solderability  
The metalized area must have more then 90% of solder coverage  
No evidence of mechanical damage 75%  
The metalized area must have more then 75% of solder coverage  
±5%。Inductance change less than±5%  
(Soldering Temp.)：260±5℃  
(Dippng time)：10±1S  
9
Resistance to Soldering heat  
Q ±10%。Q change less than ±10%  
(A cycle contain)：  
(Step 1)：-40℃，30Min  
(Step 2)：85℃，30Min  
(Cycle Times)：10  
。No evidence of mechanical damage  
±5%。Inductance change less than±5%  
Q ±10%。Q change less than ±10%  
10  
Tehermal Shock  
(Test Temperature)：  
125±2℃( ceramic core)  
85±2℃( Ferrite core)  
(Test Time)：96±2 小时  
。No evidence of mechanical damage  
±5%。Inductance change less than±5%  
Q ±10%。Q change less than ±10%  
High Temperature  
Storage  
11  
12  
13  
。No evidence of mechanical damage  
±5%。Inductance change less than±5%  
Q ±10%。Q change less than ±10%  
(Test Temperature)：  
-40±2℃  
Low Temperature  
Storage  
(Test Time)：96±2Hours  
Test Temperature)：50±2℃  
(Test Time)：96±2 小时  
90~95%  
。No evidence of mechanical damage  
±5%。Inductance change less than±5%  
Q ±10%。Q change less than ±10%  
Static Humidity  
(with rating current)  
。No evidence of mechanical damage  
±5%。Inductance change less than±5%  
Q ±10%。Q change less than ±10%  
。
(Amplitude)：1.5mm  
X、Y、Z 1 45  
14  
15  
Vibration  
(Frequency range)：10~55~10Hz(min)  
(Force)：4 Lbs  
Component Adhesion  
Noevidence of peel off or broken  
(Test Time)；10S  
(camber )：20mm  
(Test Board)： (Glass-Epoxy board)  
(Thickness )：0.8mm  
16  
17  
No evidence of mechanical damage  
Resistance to Bend  
(Test Temperature)：85±2℃  
(Test Time)：1000Hours  
(With rating current)  
Life  
Inductor shall not have a shorted or openwinding  
Note: Electrical Characteristic are to be tested after 24±2 hours at standard (room) conditions.  
Inductors  
15191 Bledsoe St., Sylmar, CA 91342  
Tel (818) 364-9800 • Fax (818) 364-6100  
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