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FAR-C4SB-11000-L22-U

更新时间： 2024-02-29 06:41:15

品牌	Logo	应用领域
富士通 - FUJITSU		晶体谐振器
页数	文件大小	规格书
11页	305K
描述
Series - Fundamental Quartz Crystal, 11MHz Nom

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FAR-C4SB-11000-L22-U 技术参数

是否Rohs认证：	符合	生命周期：	Obsolete
Reach Compliance Code：	compliant	HTS代码：	8541.60.00.50
风险等级：	5.84	其他特性：	BUILT IN CAPACITOR
晶体/谐振器类型：	SERIES - FUNDAMENTAL	频率稳定性：	0.5%
频率容差：	10000 ppm	安装特点：	THROUGH HOLE MOUNT
标称工作频率：	11 MHz	最高工作温度：	60 °C
最低工作温度：	-20 °C	物理尺寸：	L9XB4.3XH5.3 (mm)/L0.354XB0.169XH0.209 (inch)
串联电阻：	75 Ω	表面贴装：	NO

FAR-C4SB-11000-L22-U 数据手册

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FAR Family (C1, C3, C4 series)

■ APPLICATION EXAMPLES

•

C1 series

22 pF to 47 pF

680 Ω

1.8 kΩ

TTL oscillation circuit

(serial resonation circuit)

220 Ω

Output

R: Resonator

IC: MB74LS04

•

C3, C4 series

MB8850

MB8850H series

R: Resonator

■ RELIABILITY

Parameter

Test conditions

Requirements

Frequency fluctuation:

within ±0.1%

Shock

MIL-STD-883B, 2002, condtion C (3000G)

MIL-STD-202E, 201A (1.5 mm <0.059> at 10 Hz Frequency fluctuation:

Vibration

to 55 Hz for 2 hours)

within ±0.1%

5 times drop from 1 m (39.370 in.) height to

wooden board.

Frequency fluctuation:

within ±0.1%

Drop

Sealing

Immersion in water at 85°C

No bubbles observed

Frequency fluctuation:

within ±0.1%

Heat resistance

MIL-STD-202E, 210A condition B (260°C ^•5 sec.)

MIL-STD-883B, 1010, condition A (–35 to 85°C,

10 cycle)

Frequency fluctuation:

within ±0.1%

Temperature cycling

MIL-STD-883B, 1008, condition B 1000 h (100°C ^•Frequency fluctuation:

High-temperature loading test

High-temperature humidity test

1000 hours)

within ±0.1%

MIL-STD-202E, 103A, condition B (96 hours at

60°C, 90% to 95% RH, 12 VDC)

Frequency fluctuation:

within ±0.1%

1...7 8 91011

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