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CM1241-04D4

更新时间： 2024-10-02 20:30:43
品牌 Logo 应用领域
CALMIRCO 局域网光电二极管
页数 文件大小 规格书
9页 270K
描述
Trans Voltage Suppressor Diode, Unidirectional, 2 Element, Silicon, 1.70 X 1.35 MM, 0.75 MM HEIGHT, ROHS COMPLIANT, TDFN-8

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CM1241-04D4 技术参数

是否Rohs认证： 符合生命周期：Transferred
零件包装代码：DFN包装说明：R-PDSO-N8
针数：8Reach Compliance Code：unknown
ECCN代码：EAR99HTS代码：8541.10.00.50
风险等级：5.64Is Samacsys：N
最大击穿电压：17 V最小击穿电压：14.5 V
最大钳位电压：9.6 V配置：COMPLEX
二极管元件材料：SILICON二极管类型：TRANS VOLTAGE SUPPRESSOR DIODE
JESD-30 代码：R-PDSO-N8元件数量：2
端子数量：8封装主体材料：PLASTIC/EPOXY
封装形状：RECTANGULAR封装形式：SMALL OUTLINE
峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED极性：UNIDIRECTIONAL
认证状态：Not Qualified子类别：Transient Suppressors
表面贴装：YES技术：AVALANCHE
端子形式：NO LEAD端子位置：DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIEDBase Number Matches：1

CM1241-04D4 数据手册

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CM1241  
4-Channel Low Capacitance Dual-Voltage ESD Protection Array  
•
Minimal capacitance change with temperature and  
voltage  
High voltage zener diode protects supply rail  
No need for external bypass capacitors  
Each I/O pin can withstand over 1000 ESD strikes*  
RoHS compliant, lead-free finish  
Features  
•
•
•
3 channels of low voltage ESD protection  
•
•
•
•
1 channel of high voltage ESD protection  
Provides ESD protection to IEC61000-4-2 Level 4:  
±8kV contact discharge (Pins 1-3)  
±15kV contact discharge (Pin 4)  
•
Low channel input capacitance  
Electrical Schematic  
VP (Internal)  
VCC  
O
Pin 4  
O
. .  
.
Pin 1  
Pin 2  
.
CH1  
O
.
CH2 O  
LV  
HV  
Pin 3  
.
CH3  
O
Note: Pins 5, and 6 to 8  
are connected to a  
c. ommon substrate.  
. .  
.
Pins 6 - 8  
Pin 5  
GND  
VN  
Typical Application  
VCC  
CH1 (1)  
VN (8)  
VN (7)  
CH2 (2)  
CH3 (3)  
High-Speed  
Data Lines  
DAP*  
V
N (6)  
GND (5)  
V
CC (4)  
*Die Attach Pad  
on back of package  
(Connect to ground.)  
Note: All grounds must  
be connected.  
*Standard test condition is IEC61000-4-2 level 4 test circuit with each pin subjected to 8kV contact discharge for 1000 pulses. Discharges are timed at 1 second intervals and all 1000 strikes are completed in one continuous test  
run. The part is then subjected to standard production test to verify that all of the tested parameters are within spec after the 1000 strikes.  
© 2008 California Micro Devices Corp. All rights reserved.  
490 N. McCarthy Blvd., Milpitas, CA 95035-5112  
●
Tel: 408.263.3214  
●
Fax: 408.263.7846  
●
www.cmd.com  
1
Issue A – 6/17/08  
1234567...9

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