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ADP3522ACP-1.8-RL7 PDF预览

ADP3522ACP-1.8-RL7

更新时间： 2024-02-01 07:12:15
品牌 Logo 应用领域
罗彻斯特 - ROCHESTER /
页数 文件大小 规格书
21页 1132K
描述
1-CHANNEL POWER SUPPLY SUPPORT CKT, QCC32, 5 X 5 MM, MO-220VHHD-2, LFCSP-32

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ADP3522ACP-1.8-RL7 技术参数

是否无铅： 含铅是否Rohs认证： 不符合
生命周期：Active零件包装代码：QFN
包装说明：VQCCN,针数：32
Reach Compliance Code：unknown风险等级：5.33
可调阈值：YES模拟集成电路 - 其他类型：POWER SUPPLY SUPPORT CIRCUIT
JESD-30 代码：S-XQCC-N32JESD-609代码：e0
长度：5 mm湿度敏感等级：3
信道数量：1功能数量：1
端子数量：32最高工作温度：85 °C
最低工作温度：-20 °C封装主体材料：UNSPECIFIED
封装代码：VQCCN封装形状：SQUARE
封装形式：CHIP CARRIER, VERY THIN PROFILE峰值回流温度（摄氏度）：240
座面最大高度：1 mm最大供电电压 (Vsup)：5.5 V
最小供电电压 (Vsup)：3 V标称供电电压 (Vsup)：3.6 V
表面贴装：YES温度等级：OTHER
端子面层：TIN LEAD端子形式：NO LEAD
端子节距：0.5 mm端子位置：QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间：30宽度：5 mm
Base Number Matches：1

ADP3522ACP-1.8-RL7 数据手册

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ADP3522  
ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS*  
PIN FUNCTION DESCRIPTIONS  
Voltage on Any Pin with Respect to  
Pin  
1
Mnemonic  
SIMEN  
Description  
Any GND Pin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . –0.3 V to +10 V  
Voltage on Any Pin May Not Exceed VBAT, with the Following  
Exceptions: CHRIN, BASE, ISENSE  
Storage Temperature Range . . . . . . . . . . . . . –65∞C to +150∞C  
Operating Ambient Temperature Range . . . . . –20∞C to +85∞C  
Maximum Junction Temperature . . . . . . . . . . . . . . . . . 125∞C  
␪JA, Thermal Impedance (LFCSP 5 mm ϫ 5 mm)  
4-Layer JEDEC PCB . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32∞C/W  
2-Layer SEMI PCB . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108∞C/W  
Lead Temperature Range (Soldering, 60 sec.) . . . . . . . . 300∞C  
SIM LDO Enable  
RTC LDO Input Voltage  
2
VRTCIN  
VRTC  
3
Real-Time Clock Supply/  
Coin Cell Battery Charger  
4
5
6
7
8
BATSNS  
MVBAT  
CHRDET  
CHRIN  
Battery Voltage Sense Input  
Divided Battery Voltage Output  
Charge Detect Output  
Charger Input Voltage  
*Stresses above those listed under Absolute Maximum Ratings may cause perma-  
nent damage to the device. This is a stress rating only; functional operation of the  
device at these or any other conditions above those listed in the operational  
sections of this specification is not implied. Exposure to absolute maximum rating  
conditions for extended periods may affect device reliability. Absolute maximum  
ratings apply individually only, not in combination. Unless otherwise specified all  
other voltages are referenced to GND.  
SIMVSEL  
Programs VSIM Output;  
Low: 1.8 V  
9
GATEDR  
GATEIN  
Charger Drive Output  
10  
Microprocessor Charger Gate  
Control Input  
11  
DGND  
ISENSE  
EOC  
Digital Ground  
ORDERING GUIDE  
Memory  
12  
Charge Current Sense Input  
End of Charge Output  
Charge Enable Control Input  
Reset Delay Time  
13  
LDO  
Output  
Temperature  
Range  
Package  
Option  
14  
CHGEN  
RESCAP  
RESET  
NC  
Model  
15  
ADP3522ACP-3  
ADP3522ACP-1.8  
2.80 V  
1.80 V  
–20∞C to +85∞C CP-32  
–20∞C to +85∞C CP-32  
16  
Main Reset, Open Drain  
No Connection  
17, 24, 32  
18  
VSIM  
SIM LDO Output  
PIN CONFIGURATION  
19  
VBAT2  
VMEM  
VCORE  
VBAT  
Battery Input Voltage 2  
Memory LDO Output  
Digital Core LDO Output  
Battery Input Voltage  
Analog LDO Output  
TCXO LDO Output  
Output Reference  
20  
21  
22  
23  
VAN  
SIMEN 1  
NC  
24  
23  
PIN 1  
INDICATOR  
VRTCIN 2  
VRTC 3  
VAN  
22 VBAT  
25  
VTCXO  
REFOUT  
AGND  
TCXOEN  
BATSNS 4  
21 VCORE  
26  
ADP3522  
5
20  
19  
MVBAT  
VMEM  
VBAT2  
TOP VIEW  
27  
Analog Ground  
CHRDET 6  
CHRIN 7  
SIMVSEL 8  
18 VSIM  
17 NC  
28  
TCXO LDO Enable and  
MVBAT Enable  
29  
PWRONIN  
Power On/Off Signal from  
Microprocessor  
30  
31  
PWRONKEY  
ROWX  
Power On/Off Key  
Power Key Interface Output  
CAUTION  
ESD (electrostatic discharge) sensitive device. Electrostatic charges as high as 4000 V readily  
accumulate on the human body and test equipment and can discharge without detection. Although the  
ADP3522 features proprietary ESD protection circuitry, permanent damage may occur on devices  
subjected to high energy electrostatic discharges. Therefore, proper ESD precautions are recommended  
to avoid performance degradation or loss of functionality.  
–6–  
REV. 0  
1...45678910...21

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