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ADN2841ACP-48

更新时间： 2024-01-23 00:23:31
品牌 Logo 应用领域
罗彻斯特 - ROCHESTER 接口集成电路
页数 文件大小 规格书
13页 992K
描述
SPECIALTY INTERFACE CIRCUIT, QCC48, MO-220-VKKD-2, LFCSP-48

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ADN2841ACP-48 技术参数

是否Rohs认证： 不符合生命周期：Obsolete
零件包装代码：QFN包装说明：HVQCCN, LCC48,.27SQ,20
针数：48Reach Compliance Code：unknown
ECCN代码：EAR99HTS代码：8542.39.00.01
风险等级：5.35接口集成电路类型：INTERFACE CIRCUIT
JESD-30 代码：S-XQCC-N48JESD-609代码：e0
长度：7 mm湿度敏感等级：3
功能数量：1端子数量：48
最高工作温度：85 °C最低工作温度：-40 °C
封装主体材料：UNSPECIFIED封装代码：HVQCCN
封装等效代码：LCC48,.27SQ,20封装形状：SQUARE
封装形式：CHIP CARRIER, HEAT SINK/SLUG, VERY THIN PROFILE峰值回流温度（摄氏度）：240
电源：5 V认证状态：Not Qualified
座面最大高度：1 mm子类别：Display Drivers
最大供电电压：5.5 V最小供电电压：4.5 V
标称供电电压：5 V表面贴装：YES
温度等级：INDUSTRIAL端子面层：Tin/Lead (Sn85Pb15)
端子形式：NO LEAD端子节距：0.5 mm
端子位置：QUAD处于峰值回流温度下的最长时间：30
宽度：7 mm

ADN2841ACP-48 数据手册

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ADN2841  
ALARM INTERFACES  
V
CC  
A 30 kΩ internal pull-up resistor is employed to pull the digital  
high value of the alarm outputs to VCC. However, the ADN2841  
has a feature that allows the user to externally wire resistors in  
parallel with the 30 kΩ pull-up resistors, thus enabling the user  
to interface to non-VCC levels. Non-VCC alarm output levels must  
be below the VCC used for the ADN2841.  
V
CC  
V
CC  
IMPD  
ADN2841  
ADN2850  
IMODP  
IBIAS  
SDI  
TX  
RX  
SDO  
PSET  
DAC1  
DAC2  
ERSET  
POWER CONSUMPTION  
CLK  
CS  
CLK  
CS  
The ADN2841 die temperature must be kept below 125°C.  
The θJA is 25°C/W for the 48-lead LFCSP and 32°C/W for the  
32-lead LPCSP when soldered in a four-layered board. Both  
LFCSP packages have an exposed paddle and as such need to  
be soldered to the PCB to achieve this thermal performance.  
DATAP  
DATAN  
IDTONE  
TDIE = TAMBIENT + θJA × P  
ICC = ICCMIN + 0.3 I MOD  
Figure 5. Application Using Optical Supervisor ADN2850  
as a Dual 10-Bit Digital Potentiometer Using Thin-Film  
Resistor Technology to Give Very Low Temperature  
Coefficients  
P =VCC × ICC + I  
×VBIAS _ PIN + I  
×VMOD _ PIN  
(
)
(
)
BIAS  
MOD  
Thus the maximum combination of IBIAS + IMOD must be  
calculated.  
FAIL  
V
CC  
DEGRADE  
V
CC  
V
36  
25  
CC  
25ꢄ  
37  
24  
GND2  
VCC2  
GND  
GND  
GND  
CLKN  
CLKP  
IMODN  
IMODN  
GND2  
IMODP  
IMODP  
GND2  
GND2  
IBIAS  
CLKN  
CLKP  
GND1  
DATAP  
DATAN  
GND1  
VCC1  
FU-445SDF-WM1  
V
CC  
DATAP  
DATAN  
ADN2841  
V
CC  
GND  
IBIAS  
PAVCAP  
ERCAP  
CCBIAS  
48  
12  
V
CC  
1
13  
1.5kꢄ  
V
CC  
V
s SHOULD HAVE BYPASS CAPACITORS AS CLOSE AS POSSIBLETOTHE  
CC  
100nF  
100nF  
100nF  
100nF  
10ꢀF  
ACTUAL SUPPLY PINS ONTHE ADN2841 ANDTHE LASER DIODE USED.  
GND  
Figure 6. 2.7 Gbps Test Circuit, DC-Coupled, Data Not Clocked, Fast Loop Time Constant Selected  
–8–  
REV. A  
1...678910111213

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型号 品牌 获取价格 描述 数据表
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