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ADAU1590ACPZ-RL

更新时间： 2024-01-14 02:01:40

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亚德诺 - ADI		放大器功率放大器
页数	文件大小	规格书
24页	588K
描述
Class-D Audio Power Amplifier

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ADAU1590ACPZ-RL 技术参数

是否无铅：	含铅	是否Rohs认证：	符合
生命周期：	Obsolete	零件包装代码：	QFN
包装说明：	HVQCCN, LCC48,.27SQ,20	针数：	48
Reach Compliance Code：	compliant	ECCN代码：	EAR99
HTS代码：	8542.31.00.01	风险等级：	5.62
标称带宽：	20 kHz	商用集成电路类型：	AUDIO AMPLIFIER
JESD-30 代码：	S-XQCC-N48	JESD-609代码：	e3
长度：	7 mm	湿度敏感等级：	3
信道数量：	2	功能数量：	1
端子数量：	48	最高工作温度：	85 °C
最低工作温度：	-40 °C	标称输出功率：	15.5 W
封装主体材料：	UNSPECIFIED	封装代码：	HVQCCN
封装等效代码：	LCC48,.27SQ,20	封装形状：	SQUARE
封装形式：	CHIP CARRIER, HEAT SINK/SLUG, VERY THIN PROFILE	峰值回流温度（摄氏度）：	260
电源：	3.3,12 V	认证状态：	Not Qualified
座面最大高度：	1 mm	子类别：	Audio/Video Amplifiers
最大供电电压 (Vsup)：	3.6 V	最小供电电压 (Vsup)：	3 V
表面贴装：	YES	温度等级：	INDUSTRIAL
端子面层：	Matte Tin (Sn)	端子形式：	NO LEAD
端子节距：	0.5 mm	端子位置：	QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间：	NOT SPECIFIED	宽度：	7 mm
Base Number Matches：	1

ADAU1590ACPZ-RL 数据手册

ADAU1590

ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS

Table 6.

THERMAL RESISTANCE

θ_JAis specified for the worst-case conditions, that is, a device

soldered in a circuit board for surface-mount packages.

Parameter

Rating

DVDD to DGND

−0.3 V to +3.6 V

−0.3 V to +20.0 V

DGND − 0.3 V to DVDD + 0.3 V

−40°C to +85°C

−65°C to +150°C

150°C

AVDD to AGND

PVDD to PGND¹

Table 7. Thermal Resistance

1, 2

Package Type

θ_JA

θ_JC

Ψ_JB

8.05

Ψ_JT

Unit

°C/W

MUTE/STDN Inputs

Operating Temperature Range

Storage Temperature Range

LFCSP-48

TQFP-48

24.6

24.7

2.0

1.63

0.18

0.8

¹With exposed pad (ePAD) soldered to 4-layer JEDEC standard PCB.

²Through the bottom (ePAD) surface.

Maximum Junction

Temperature

Lead Temperature

Soldering (10 sec)

Vapor Phase (60 sec)

Infrared (15 sec)

260°C

215°C

220°C

ESD CAUTION

¹Includes any induced voltage due to inductive load.

Stresses above those listed under Absolute Maximum Ratings

may cause permanent damage to the device. This is a stress

rating only; functional operation of the device at these or any

other conditions above those indicated in the operational

section of this specification is not implied. Exposure to absolute

maximum rating conditions for extended periods may affect

device reliability.

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