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83918

更新时间: 2024-01-04 10:04:08
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艾迪悌 - IDT /
页数 文件大小 规格书
19页 332K
描述
Low Skew, 1:18 Crystal-to-LVCMOS/LVTTL Fanout Buffer

83918 技术参数

是否无铅: 含铅是否Rohs认证: 不符合
生命周期:Active零件包装代码:QFP
包装说明:LQFP, QFP32,.35SQ,32针数:32
Reach Compliance Code:not_compliantECCN代码:EAR99
HTS代码:8542.39.00.01风险等级:5.33
JESD-30 代码:S-PQFP-G32JESD-609代码:e0
长度:7 mm湿度敏感等级:3
端子数量:32最高工作温度:85 °C
最低工作温度:-40 °C最大输出时钟频率:250 MHz
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装代码:LQFP
封装等效代码:QFP32,.35SQ,32封装形状:SQUARE
封装形式:FLATPACK, LOW PROFILE峰值回流温度(摄氏度):240
电源:3.3 V主时钟/晶体标称频率:40 MHz
认证状态:Not Qualified座面最大高度:1.6 mm
子类别:Clock Generators最大压摆率:24 mA
最大供电电压:3.465 V最小供电电压:3.135 V
标称供电电压:3.3 V表面贴装:YES
技术:CMOS温度等级:INDUSTRIAL
端子面层:Tin/Lead (Sn85Pb15)端子形式:GULL WING
端子节距:0.8 mm端子位置:QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间:20宽度:7 mm
uPs/uCs/外围集成电路类型:CLOCK GENERATOR, OTHERBase Number Matches:1

83918 数据手册

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83918 Data Sheet  
Parameter Measurement Information  
2.05V 5%  
1.65V 5%  
1.25V 5%  
SCOPE  
SCOPE  
V
DD,  
V
DD  
V
DDO  
V
DDO  
Qx  
Qx  
GND  
GND  
-1.65V 5%  
-1.25V 5%  
3.3 Core/3.3V Output Load AC Test Circuit  
3.3V Core/2.5V Output Load AC Test Circuit  
2.4V 5%  
1.25V 5%  
0.9V 0.1V  
SCOPE  
SCOPE  
V
V
DD,  
DD  
V
DDO  
V
DDO  
Qx  
Qx  
GND  
GND  
-1.25V 5%  
-0.9V 0.1V  
3.3V Core/1.8V Output Load AC Test Circuit  
2.5V/2.5V Output Load AC Test Circuit  
1.6V 0.025V  
0.9V 0.1V  
SCOPE  
V
DD  
V
DDO  
Qx  
GND  
-0.9V 0.1V  
2.5V/1.8V Output Load AC Test Circuit  
RMS Phase Jitter  
©2016 Integrated Device Technology, Inc  
10  
Revision B March 17, 2016  

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