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5962-8515516RA

更新时间： 2024-02-11 15:25:22
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德州仪器 - TI 可编程逻辑器件输入元件时钟
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23页 232K
描述
HIGH-PERFORMANCE IMPACT-X E PAL CIRCUITS

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5962-8515516RA 技术参数

是否无铅： 含铅是否Rohs认证： 不符合
生命周期：Obsolete零件包装代码：DFP
包装说明：CERAMIC, FP-20针数：20
Reach Compliance Code：not_compliantECCN代码：3A001.A.2.C
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.85
Is Samacsys：N架构：PAL-TYPE
最大时钟频率：48 MHzJESD-30 代码：R-GDFP-F20
专用输入次数：8I/O 线路数量：4
输入次数：12输出次数：8
产品条款数：64端子数量：20
最高工作温度：125 °C最低工作温度：-55 °C
组织：8 DEDICATED INPUTS, 4 I/O输出函数：MIXED
封装主体材料：CERAMIC, GLASS-SEALED封装代码：DFP
封装等效代码：FL20,.3封装形状：RECTANGULAR
封装形式：FLATPACK峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED
电源：5 V可编程逻辑类型：OT PLD
传播延迟：14 ns认证状态：Not Qualified
筛选级别：MIL-STD-883座面最大高度：2.45 mm
子类别：Programmable Logic Devices最大供电电压：5.5 V
最小供电电压：4.5 V标称供电电压：5 V
表面贴装：YES技术：TTL
温度等级：MILITARY端子形式：FLAT
端子节距：1.27 mm端子位置：DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED宽度：6.92 mm
Base Number Matches：1

5962-8515516RA 数据手册

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TIBPAL16R4-10C, TIBPAL16R6-10C, TIBPAL16R8-10C  
HIGH-PERFORMANCE IMPACT-X PAL CIRCUITS  
SRPS017 – D3023, MAY 1987 – REVISED MARCH 1992  
By using the described test circuit, MTBF can be determined for several different values of ∆t (see Figure 4).  
Plotting this information on semilog scale demonstrates the metastable characteristics of the selected flip-flop.  
Figure 6 shows the results for the TIBPAL16’-10C operating at 1 MHz.  
9
8
7
6
5
4
3
2
1
10  
10  
10  
10  
10  
10  
10  
10  
10  
10 yr  
1 yr  
1 mo  
1 wk  
1 day  
1 hr  
1 min  
10 s  
f
f
= 1 MHz  
clk  
= 500 kHz  
data  
0
10  
20  
30  
40  
50  
60  
70  
∆t (ns)  
Figure 6. Metastable Characteristics  
From the data taken in the above experiment, an equation can be derived for the metastable characteristics at  
other clock frequencies.  
1
(
C2 x t)  
The metastable equation:  
f
x f  
x C1 e  
SCLK  
data  
MTBF  
The constants C1 and C2 describe the metastable characteristics of the device. From the experimental data,  
–7  
these constants can be solved for: C1 = 9.15 X 10 and C2 = 0.959  
Therefore  
1
7
( 0.959 x t)  
f
x f  
x 9.15 x 10  
e
SCLK  
data  
MTBF  
definition of variables  
DUT (Device Under Test): The DUT is a 10-ns registered PLD programmed with the equation Q : = D.  
MTBF (Mean Time Between Failures): The average time (s) between metastable occurrences that cause a  
violation of the device specifications.  
f
f
(system clock frequency): Actual clock frequency for the DUT.  
SCLK  
(data frequency): Actual data frequency for a specified input to the DUT.  
data  
C1: Calculated constant that defines the magnitude of the curve.  
C2: Calculated constant that defines the slope of the curve.  
t
(metastability recovery time): Minimum time required to guarantee recovery from metastability, at a given  
rec  
MTBF failure rate. t  
= ∆t –  
(CLK to Q, max)  
rec  
tpd  
∆t: The time difference (ns) from when the synchronizing flip-flop is clocked to when its output is sampled.  
The test described above has shown the metastable characteristics of the TIBPAL16R4/R6/R8-10C series. For  
additional information on metastable characteristics of Texas Instruments logic circuits, please refer to TI  
Applications publication SDAA004, ”Metastable Characteristics, Design Considerations for ALS, AS, and LS  
Circuits.’’  
POST OFFICE BOX 655303 • DALLAS, TEXAS 75265  
17  
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