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100343FCQR

更新时间： 2024-01-07 22:51:47
品牌 Logo 应用领域
美国国家半导体 - NSC 触发器锁存器逻辑集成电路
页数 文件大小 规格书
8页 158K
描述
8-Bit D-Type Latch

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100343FCQR 技术参数

是否Rohs认证： 不符合生命周期：Obsolete
零件包装代码：LCC包装说明：QCCJ, LDCC28,.5SQ
针数：28Reach Compliance Code：unknown
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.76
Is Samacsys：N其他特性：WITH DUAL LATCH ENABLE
系列：100KJESD-30 代码：S-PQCC-J28
JESD-609代码：e0长度：11.43 mm
逻辑集成电路类型：D LATCH位数：8
功能数量：1端子数量：28
最高工作温度：85 °C最低工作温度：-40 °C
输出特性：OPEN-EMITTER输出极性：TRUE
封装主体材料：PLASTIC/EPOXY封装代码：QCCJ
封装等效代码：LDCC28,.5SQ封装形状：SQUARE
封装形式：CHIP CARRIER包装方法：TAPE AND REEL
峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED电源：-4.5 V
最大电源电流（ICC）：97 mAProp。Delay @ Nom-Sup：2 ns
传播延迟（tpd）：2.7 ns认证状态：Not Qualified
座面最大高度：4.57 mm子类别：FF/Latches
表面贴装：YES技术：ECL
温度等级：INDUSTRIAL端子面层：Tin/Lead (Sn/Pb)
端子形式：J BEND端子节距：1.27 mm
端子位置：QUAD处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED
触发器类型：LOW LEVEL宽度：11.43 mm
Base Number Matches：1

100343FCQR 数据手册

 浏览型号100343FCQR的Datasheet PDF文件第1页浏览型号100343FCQR的Datasheet PDF文件第2页浏览型号100343FCQR的Datasheet PDF文件第3页浏览型号100343FCQR的Datasheet PDF文件第5页浏览型号100343FCQR的Datasheet PDF文件第6页浏览型号100343FCQR的Datasheet PDF文件第7页 
Military Version  
AC Electrical Characteristics (Continued)  
=
=
=
VEE −4.2V to −5.7V, VCC VCCA GND  
=
=
=
Symbol  
Parameter  
TC −55˚C  
TC +25˚C  
TC +125˚C Units  
Conditions  
Notes  
Min  
Max  
Min  
Max  
Min  
Max  
tPLH  
tPHL  
tTLH  
tTHL  
ts  
Propagation Delay  
LE, E to Output  
0.90  
3.40  
1.0  
3.10  
1.10  
3.90  
ns  
ns  
(Notes 8, 9,  
10, 12)  
Figures 1, 2, 3  
Figures 1, 3  
Transition Time  
0.40  
2.50  
0.40  
2.40  
0.40  
2.70  
(Note 11)  
20% to 80%, 80% to 20%  
Setup Time  
D0–D7  
0.60  
1.50  
2.40  
0.60  
1.50  
2.40  
0.60  
1.70  
2.40  
ns  
ns  
ns  
Figures 1, 4  
Figures 1, 4  
Figures 1, 4  
(Note 11)  
(Note 11)  
(Note 11)  
th  
Hold Time  
D0–D7  
LE, E  
t
pw(H)  
Pulse Width HIGH  
Note 8: F100K 300 Series cold temperature testing is performed by temperature soaking (to guarantee junction temperature equals −55˚C), then testing immediately  
after power-up. This provides “cold start” specs which can be considered a worst case condition at cold temperatures.  
Note 9: Screen tested 100% on each device at +25˚C temperature only, Subgroup A9.  
Note 10: Sample tested (Method 5005, Table I) on each manufactured lot at +25˚C, Subgroup A9, and at +125˚C and −55˚C temperatures, Subgroups A10 and A11.  
Note 11: Not tested at +25˚C, +125˚C, and −55˚C temperature (design characterization data).  
Note 12: The propagation delay specified is for single output switching. Delays may vary up to 300 ps with multiple outputs switching.  
Test Circuitry  
DS100298-6  
=
=
−2.5V  
Note 13:  
V , V  
CC CCA  
+2V, V  
EE  
=
Note 14: L1 and L2 equal length 50Ω impedance lines  
=
R
50Ω terminator internal to scope  
T
Decoupling 0.1 µF from GND to V and V  
CC EE  
All unused outputs are loaded with 50Ω to GND  
=
C
Fixture and stray capacitance ≤ 3 pF  
L
FIGURE 1. AC Test Circuit  
Switching Waveforms  
DS100298-7  
FIGURE 2. Propagation Delays  
www.national.com  
4
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