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100331DMQB

更新时间： 2024-02-09 10:43:06

品牌	Logo	应用领域
德州仪器 - TI		输入元件输出元件逻辑集成电路触发器
页数	文件大小	规格书
9页	83K
描述
100K SERIES, TRIPLE POSITIVE EDGE TRIGGERED D FLIP-FLOP, COMPLEMENTARY OUTPUT, CDIP24, 0.400 INCH, CERAMIC, DIP-24

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100331DMQB 技术参数

生命周期：	Contact Manufacturer	包装说明：	DIP,
Reach Compliance Code：	unknown	HTS代码：	8542.39.00.01
风险等级：	5.59	其他特性：	WITH ADDITIONAL COMMON CLOCK, SET AND RESET INPUTS; OPTEMP SPECIFIED AS TC
系列：	100K	JESD-30 代码：	R-GDIP-T24
逻辑集成电路类型：	D FLIP-FLOP	位数：	1
功能数量：	3	端子数量：	24
最高工作温度：	125 °C	最低工作温度：	-55 °C
输出特性：	OPEN-EMITTER	输出极性：	COMPLEMENTARY
封装主体材料：	CERAMIC, GLASS-SEALED	封装代码：	DIP
封装形状：	RECTANGULAR	封装形式：	IN-LINE
传播延迟（tpd）：	2.4 ns	筛选级别：	MIL-STD-883 Class B
座面最大高度：	5.72 mm	表面贴装：	NO
技术：	ECL	温度等级：	MILITARY
端子形式：	THROUGH-HOLE	端子节距：	2.54 mm
端子位置：	DUAL	触发器类型：	POSITIVE EDGE
宽度：	10.16 mm	最小 fmax：	400 MHz
Base Number Matches：	1

100331DMQB 数据手册

MICROCIRCUIT DATA SHEET

MN100331-X REV 1B0

Electrical Characteristics

AC PARAMETERS(Continued)

(The following conditions apply to all the following parameters, unless otherwise specified.)

AC: VEE Range: -4.2 to 5.7V, VCC=VCCA=GND, Loading: 50 ohms to -2.0V

PIN-

SUB-

SYMBOL

PARAMETER

Hold Time

CONDITIONS

NOTES

MIN

1.3

MAX UNIT

NAME

GROUPS

VEE=-4.2/-5.7V

Dn to

CPc/CPn

Dn to

CPc/CPn

1.6

1.5

Dn to

CPc/CPn

tREL

Release Time

CDn/SDn 1.3

CDn/SDn 1.6

CDn/SDn 1.5

VEE= -4.2/-5.7V

MS/MR

2.3

2.5

10, 11

tPW(H)

tPW(H) 1

tPW(H) 2

fMAX

Pulse Width High VEE= -4.2/-5.7V

CPc/CPn 2.0

9, 10,

CDn/SDn 2.0

9, 10,

MS/MR

2.0

9, 10,

Maximum Clock

Frequency

VEE= -4.2/-5.7V

CPc/CPn 400

MHz 9, 10,

Note 1: Screen tested 100% on each device at -55 C, +25 C and +125 C temp., subgroups 1, 2,

3, 7 & 8.

Note 2: For QB devices, screen tested 100% on each device at +25C temperature only, subgroup

A9. For QMLV devices, screen tested 100% on each device at +25C, +125C & -55C

temperature, subgroups A9, 10 & 11.

Note 3: Sample tested (Method 5005, Table 1) on each MFG. lot at +25 C, +125 C & -55 C temp.,

subgroups A1, 2, 3, 7 & 8.

Note 4: Sample tested (Method 5005, Table 1) on each MFG. lot at +25 C, subgroup A9, and at

+125 C & -55 C temp., subgroups A10 & 11.

Note 5: Sample tested (Method 5005, Table 1) on each MFG. lot at +25 C temp. only, subgroup

A9.

Note 6: Not tested at +25 C, +125 C & -55 C temp. (DESIGN CHARACTERIZATION DATA).

Note 7: Guaranteed by applying specified input condition and testing VOH/VOL.

1...3 4 567 8 9

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型号	品牌	描述	获取价格	数据表
100331F	NSC	Low Power Triple D Flip-Flop	获取价格
100331FMQB	TI	100K SERIES, TRIPLE POSITIVE EDGE TRIGGERED D FLIP-FLOP, COMPLEMENTARY OUTPUT, CQFP24, CER	获取价格
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