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SN74AS632AN

更新时间: 2024-02-20 15:11:28
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德州仪器 - TI 光电二极管逻辑集成电路
页数 文件大小 规格书
2页 61K
描述
AS SERIES, 32-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, PDIP52

SN74AS632AN 技术参数

是否Rohs认证: 不符合生命周期:Obsolete
包装说明:DIP, DIP52,.6Reach Compliance Code:not_compliant
HTS代码:8542.39.00.01风险等级:5.83
其他特性:BUILT IN DIAGNOSTICS; BYTE CONTROL系列:AS
JESD-30 代码:R-PDIP-T52长度:66.55 mm
负载电容(CL):50 pF逻辑集成电路类型:ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT
位数:32功能数量:1
端子数量:52最高工作温度:70 °C
最低工作温度:输出特性:3-STATE
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装代码:DIP
封装等效代码:DIP52,.6封装形状:RECTANGULAR
封装形式:IN-LINE峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED
最大电源电流(ICC):330 mA传播延迟(tpd):24 ns
认证状态:Not Qualified座面最大高度:5.08 mm
子类别:Arithmetic Circuits最大供电电压 (Vsup):5.5 V
最小供电电压 (Vsup):4.5 V标称供电电压 (Vsup):5 V
表面贴装:NO技术:TTL
温度等级:COMMERCIAL端子形式:THROUGH-HOLE
端子节距:2.54 mm端子位置:DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED宽度:15.24 mm
Base Number Matches:1

SN74AS632AN 数据手册

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