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MX27C2048QC-55

更新时间: 2024-02-22 10:44:13
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18页 766K
描述
2M-BIT [256Kx8/128x16] CMOS EPROM

MX27C2048QC-55 技术参数

是否Rohs认证: 不符合生命周期:Obsolete
零件包装代码:LPCC包装说明:QCCJ, LDCC44,.7SQ
针数:44Reach Compliance Code:unknown
ECCN代码:EAR99HTS代码:8542.32.00.71
风险等级:5.61Is Samacsys:N
最长访问时间:55 nsI/O 类型:COMMON
JESD-30 代码:S-PQCC-J44JESD-609代码:e0
长度:16.5862 mm内存密度:2097152 bit
内存集成电路类型:OTP ROM内存宽度:16
功能数量:1端子数量:44
字数:131072 words字数代码:128000
工作模式:ASYNCHRONOUS最高工作温度:70 °C
最低工作温度:组织:128KX16
输出特性:3-STATE封装主体材料:PLASTIC/EPOXY
封装代码:QCCJ封装等效代码:LDCC44,.7SQ
封装形状:SQUARE封装形式:CHIP CARRIER
并行/串行:PARALLEL峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED
电源:5 V认证状态:Not Qualified
座面最大高度:4.57 mm最大待机电流:0.0001 A
子类别:OTP ROMs最大压摆率:0.05 mA
最大供电电压 (Vsup):5.5 V最小供电电压 (Vsup):4.5 V
标称供电电压 (Vsup):5 V表面贴装:YES
技术:CMOS温度等级:COMMERCIAL
端子面层:Tin/Lead (Sn/Pb)端子形式:J BEND
端子节距:1.27 mm端子位置:QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED宽度:16.5862 mm
Base Number Matches:1

MX27C2048QC-55 数据手册

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MX27C2100/27C2048  
SWITCHING TEST CIRCUITS  
DEVICE  
UNDER  
TEST  
1.8K ohm  
+5V  
DIODES = IN3064  
CL  
OR EQUIVALENT  
6.2K ohm  
CL = 100 pF including jig capacitance (30pF for MX27C2100/2048-70 and MX27C2048-55)  
SWITCHING TEST WAVEFORMS  
2.0V  
0.8V  
2.0V  
0.8V  
TEST POINTS  
AC driving levels  
OUTPUT  
INPUT  
AC TESTING: AC driving levels are 3.0V/0V.  
Input pulse rise and fall times are < 10ns.  
1.5V  
1.5V  
TEST POINTS  
AC driving levels  
OUTPUT  
INPUT  
AC TESTING: (1) AC driving levels are 3.0V/0V for commercial grade.  
Input pulse rise and fall times are < 10ns.  
(2) For MX27C2100/2048-70 and MX27C2048-55.  
P/N: PM0158  
REV. 4.3, AUG. 22, 2001  
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