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LH0071-2H-MIL

更新时间: 2024-09-25 19:55:59
品牌 Logo 应用领域
美国国家半导体 - NSC 输出元件
页数 文件大小 规格书
2页 14K
描述
IC 1-OUTPUT THREE TERM VOLTAGE REFERENCE, 10.24 V, MBCY3, Voltage Reference

LH0071-2H-MIL 技术参数

是否Rohs认证: 不符合生命周期:Obsolete
包装说明:, CAN3/4,.2Reach Compliance Code:unknown
ECCN代码:EAR99HTS代码:8542.39.00.01
风险等级:5.89模拟集成电路 - 其他类型:THREE TERMINAL VOLTAGE REFERENCE
JESD-30 代码:O-MBCY-W3JESD-609代码:e0
功能数量:1输出次数:1
端子数量:3最高工作温度:125 °C
最低工作温度:-55 °C最大输出电压:10.2451 V
最小输出电压:10.2349 V标称输出电压:10.24 V
封装主体材料:METAL封装等效代码:CAN3/4,.2
封装形状:ROUND封装形式:CYLINDRICAL
峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED认证状态:Not Qualified
子类别:Voltage References最大供电电流 (Isup):5 mA
最大供电电压 (Vsup):40 V最小供电电压 (Vsup):11.4 V
表面贴装:NO技术:BIPOLAR
温度等级:MILITARY端子面层:Tin/Lead (Sn/Pb)
端子形式:WIRE端子位置:BOTTOM
处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED微调/可调输出:NO
Base Number Matches:1

LH0071-2H-MIL 数据手册

 浏览型号LH0071-2H-MIL的Datasheet PDF文件第2页 
MILITARY DATA SHEET  
Original Creation Date: 09/18/95  
Last Update Date: 12/20/96  
MNLH0071-0-H REV 0BL  
Last Major Revision Date: 09/18/95  
PRECISION BINARY BUFFERED REFERENCE  
Industry Part Number  
NS Part Numbers  
LH0071  
LH0071-0H-MIL  
Prime Die  
LH0071  
Processing  
Subgrp Description  
Temp (oC)  
MIL-STD-883, Method 5004  
1
Static tests at  
+25  
2
Static tests at  
+125  
-55  
3
Static tests at  
4
Dynamic tests at  
Dynamic tests at  
Dynamic tests at  
Functional tests at  
Functional tests at  
Functional tests at  
Switching tests at  
Switching tests at  
Switching tests at  
+25  
Quality Conformance Inspection  
5
+125  
-55  
6
MIL-STD-883, Method 5005  
7
+25  
8A  
8B  
9
+125  
-55  
+25  
10  
11  
+125  
-55  
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