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ATF1508AE-7AI144

更新时间： 2024-01-29 04:12:16
品牌 Logo 应用领域
爱特美尔 - ATMEL 时钟输入元件可编程逻辑
页数 文件大小 规格书
73页 1713K
描述
EE PLD, 7.5ns, PQFP144, LOW PROFILE, PLASTIC, TQFP-144

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ATF1508AE-7AI144 技术参数

是否Rohs认证： 不符合生命周期：Obsolete
零件包装代码：QFP包装说明：LOW PROFILE, PLASTIC, TQFP-144
针数：144Reach Compliance Code：compliant
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.8
最大时钟频率：133 MHzJESD-30 代码：S-PQFP-G144
JESD-609代码：e0长度：20 mm
专用输入次数：I/O 线路数量：96
端子数量：144最高工作温度：85 °C
最低工作温度：-40 °C组织：0 DEDICATED INPUTS, 96 I/O
输出函数：MACROCELL封装主体材料：PLASTIC/EPOXY
封装代码：LFQFP封装形状：SQUARE
封装形式：FLATPACK, LOW PROFILE, FINE PITCH峰值回流温度（摄氏度）：240
可编程逻辑类型：EE PLD传播延迟：7.5 ns
认证状态：Not Qualified座面最大高度：1.6 mm
最大供电电压：3.6 V最小供电电压：3 V
标称供电电压：3.3 V表面贴装：YES
温度等级：INDUSTRIAL端子面层：TIN LEAD
端子形式：GULL WING端子节距：0.5 mm
端子位置：QUAD处于峰值回流温度下的最长时间：30
宽度：20 mmBase Number Matches：1

ATF1508AE-7AI144 数据手册

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Features  
• 2nd Generation EE Complex Programmable Logic Devices  
– 3.0V to 3.6V Operating Range with I/Os 3.3 or 5V Compliant  
– 32 - 512 Macrocells with Enhanced Features  
– Pin-compatible with Industry-standard Devices  
– Speeds to 5 ns Maximum Pin-to-pin Delay  
– Registered Operation to 225 MHz  
• Enhanced Macrocells with Logic Doubling™ Features  
– Bury Either Register or COM while Using the Other for Output  
– Dual Independent Feedback Allows Multiple Latch Functions per Macrocell  
– 5 Product Terms per Macrocell, Expandable to 40 per Macrocell with Cascade  
Logic, Plus 15 More with Foldback Logic  
– D/T/Latch Configurable Flip-flops plus Transparent Latches  
– Global and/or per Macrocell Register Control Signals  
– Global and/or per Macrocell Output Enable  
– Programmable Output Slew Rate per Macrocell  
– Programmable Output Open Collector Option per Macrocell  
– Fast Registered Input from Product Term  
• Enhanced Connectivity  
ATF15xxAE  
Family  
Datasheet  
ATF1502AE(L)  
ATF1504AE(L)  
ATF1508AE(L)  
ATF1516AE(L)  
ATF1532AE(L)  
– Single Level Switch Matrix for Maximum Routing Options  
– Up to 40 Inputs per Logic Block  
• Advanced Power Management Features  
– ITD (Input Transition Detection) Available Individually on Global Clocks, Inputs  
and I/O for µA Level Standby Current on “L” versions  
– Pin-controlled 1 mA Standby Mode  
– Reduced-power per Macrocell  
– Automatic Power Down of Unused Macrocells  
– Programmable Pin-keeper Inputs and I/Os  
• Available in Commercial and Industrial Temperature Ranges  
• Available in All Popular Packages Including PLCC, PQFP, TQFP and BGA  
• EE Technology  
– 100% Tested  
– Completely Reprogrammable  
– 10,000 Program/Erase Cycles  
Preliminary  
– 20 Year Data Retention  
– 2000V ESD Protection  
– 200 mA Latch-up Immunity  
• JTAG Boundary-scan Testing Port per IEEE 1149.1-1990 and 1149.1a-1993  
– Pull-up Option on JTAG Pins TMS and TDI  
• IEEE 1532 Compatibility for Fast In-System Programmability (ISP) via JTAG  
• PCI-compliant  
• Security Fuse Feature  
Rev. 2398B–08/01  
1234567...73

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