揭秘高温 IC 设计:环境温度和结温的关键要点

随着科技的不断进步,商业、工业、军事以及汽车等众多领域对耐高温集成电路(IC)的需求日益增长。高温环境会给集成电路的性能、可靠性和安全性带来严重挑战,因此,迫切需要借助创新技术来解决相关技术难题。通过深入探究高温产生的根源,我们能够有效缓解高温引发的问题,进而增强集成电路在极端条件下的稳定性,延长其使用寿命,同时优化整体解决方案的成本。安森美(onsemi)的Treo平台提供了全面的产品开发生态系统,专为支持高温运行而精心设计。

环境温度

IC以及所有电子设备的一个关键参数是其能够可靠工作的温度范围。具体的工作温度范围是根据其应用和行业来定义的(图1a)。

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(图1:不同应用的温度范围及温度曲线示例,图片来源网络)

以汽车IC为例,其温度范围取决于电子元件的安装位置。若位于乘员舱内,温度范围最高可达85°C;若位于底盘或发动机舱内,但不直接位于发动机上,温度范围最高可达125°C;靠近或直接位于发动机或变速箱附近,温度范围可达150°C或160°C;在靠近刹车或液压系统的底盘区域,温度最高可达175℃。这些对高温的要求不仅适用于内燃机汽车,也同样适用于混动和全电动汽车。

当汽车发动机运行时,主动冷却系统会有效控制温度。然而,在最极端的情况下,如车辆行驶后停放在酷热环境中,此时主动冷却系统停止工作,发动机及其它部件的热量逐渐扩散,导致电子设备温度上升。即便如此,当汽车再次启动时,所有系统仍需在温度升高的条件下保持正常工作。

对于适中的温度条件,可以定义IC在静态工作温度下的预期使用寿命。例如,在125°C的条件下可以连续工作10年。然而,对于像175°C这样的高温,使用bulkCMOS工艺实际上是不能实现的。通常,IC不需要在其整个生命周期内都以最高温度运行。在汽车行业,常采用热曲线图来替代固定的静态温度规范,将整个使用寿命划分为不同的工作模式和温度区间(段),只有一小部分时间需要在极高温度下工作(图1b)。

将电子元件布置在更靠近应用的高温区域,通过减少噪音和干扰可以提高传感器的精度和分辨率。对于大功率应用,尽量减少大电流开关回路可减少干扰。采用局部闭环控制系统可减轻重量并提高性能。然而,缩小模块尺寸会因功率密度提高和散热问题而增加电子元件的温度。

结温

IC工作时会有功耗,导致IC内部的实际半导体结温高于环境温度。温度的升高取决于IC内部耗散的功率以及裸片与环境之间的热阻。这种热阻取决于封装类型、PCB、散热片等(见图2)。

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(图2:结温升高,图片来源网络)

对于功率开关、功率驱动器、DC-DC转换器、具有高压降的线性稳压器(例如,在使用DC-DC转换器不经济的情况下,用于汽车电池驱动模块)或传感器执行器来说,裸片高功耗是不可避免的。

热阻取决于封装类型和热管理方式(图3)。对于常用的小型封装,结到外部环境的热阻大约为50-90K/W(SOIC封装),以及大约30-60K/W(QFP封装)。在某些应用中,结至环境的热阻可达每瓦数百开尔文。

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(图3:不同封装类型IC散热示例,图片来源网络)

结温在IC的整个裸片上并不是均匀一致的。可能存在如功率驱动器等高功耗区。具有高功率驱动器的IC裸片温度图示例见图4。

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(图4:IC热分布图示例,图片来源网络)

在高温IC设计中,准确把握环境温度和结温的特性及影响至关重要。只有充分考虑这些因素,才能设计出性能优良、可靠性高的高温IC产品,满足不同行业在极端温度条件下的应用需求。

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