ADUC7122

更新时间： 2024-01-08 18:56:52

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亚德诺 - ADI		微控制器
页数	文件大小	规格书
92页	588K
描述
Precision Analog Microcontroller, 12-Bit Analog I/O, ARM7TDMI® MCU

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ADUC7122 技术参数

Source Url Status Check Date：	2013-05-01 14:56:49.54	是否无铅：	含铅
是否Rohs认证：	符合	生命周期：	Active
零件包装代码：	BGA	包装说明：	LFBGA, BGA108,12X12,20
针数：	108	Reach Compliance Code：	compliant
ECCN代码：	3A991.A.2	HTS代码：	8542.31.00.01
风险等级：	5.71	具有ADC：	YES
地址总线宽度：		位大小：	32
CPU系列：	ARM7	最大时钟频率：	41.78 MHz
DAC 通道：	YES	DMA 通道：	NO
外部数据总线宽度：		JESD-30 代码：	S-PBGA-B108
JESD-609代码：	e1	长度：	7 mm
湿度敏感等级：	3	I/O 线路数量：	32
端子数量：	108	片上程序ROM宽度：	16
最高工作温度：	95 °C	最低工作温度：	-10 °C
PWM 通道：	YES	封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY
封装代码：	LFBGA	封装等效代码：	BGA108,12X12,20
封装形状：	SQUARE	封装形式：	GRID ARRAY, LOW PROFILE, FINE PITCH
峰值回流温度（摄氏度）：	260	电源：	3.3 V
认证状态：	Not Qualified	RAM（字节）：	8192
ROM（单词）：	64512	ROM可编程性：	FLASH
座面最大高度：	1.4 mm	速度：	41.78 MHz
子类别：	Microcontrollers	最大压摆率：	40 mA
最大供电电压：	3.6 V	最小供电电压：	3 V
标称供电电压：	3.3 V	表面贴装：	YES
技术：	CMOS	温度等级：	OTHER
端子面层：	Tin/Silver/Copper (Sn/Ag/Cu)	端子形式：	BALL
端子节距：	0.5 mm	端子位置：	BOTTOM
处于峰值回流温度下的最长时间：	30	宽度：	7 mm
uPs/uCs/外围集成电路类型：	MICROCONTROLLER, RISC	Base Number Matches：	1

ADUC7122 数据手册

ADuC7122

Preliminary Technical Data

Parameter

Min

Typ

Max

Unit

Test Conditions/Comments

ESD TESTS

2.5 V reference, T_A= 25°C

HBM Passed Up to

FCIDM Passed Up to

±.5

¹All ADC channel specifications are guaranteed during normal MicroConverter core operation.

²Apply to all ADC input channels.

³Measured using the factory-set default values in the ADC offset register (ADCOF) and gain coefficient register (ADCGN); see the the Calibration section.

⁴Not production tested but supported by design and/or characterization data on production release.

⁵Measured using the factory-set default values in ADCOF and ADCGN with an external AD845 op amp as an input buffer stage as shown in Figure 22. Based on external ADC

system components, the user may need to execute a system calibration to remove external endpoint errors and achieve these specifications (see the ADC Circuit

Overview).

^ꢀThe input signal can be centered on any dc common-mode voltage (V_CM) as long as this value is within the ADC voltage input range specified.

⁷V_REFcalibration and trimming are performed with core operating in normal mode CD = ±, ADC on, and all DACs on. V_REFaccuracy may vary under other operating

conditions.

⁸DAC linearity is calculated using a reduced code range of 1±± to 3995.

⁹DAC gain error is calculated using a reduced code range of 1±± to internal 2.5 V V_REF

^1±Die temperature.

¹¹Endurance is qualified as per JEDEC Standard 22 Method A117 and measured at −4±°C, +25°C, +85°C, and +125°C.

¹²Retention lifetime equivalent at junction temperature (T_J) = 85°C as per JEDEC Standard 22 Method A117. Retention lifetime derates with junction temperature.

¹³Test carried out with a maximum of eight I/Os set to a low output level.

¹⁴Power supply current consumption is measured in normal, pause, and sleep modes under the following conditions: normal mode with 3.ꢀ V supply, pause mode with

3.ꢀ V supply, and sleep mode with 3.ꢀ V supply.

¹⁵IOV_DDpower supply current decreases typically by 2 mA during a Flash/EE erase cycle.

Rev. PrA | Page ꢀ of 92

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型号	品牌	描述	获取价格	数据表
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