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ADF4157BRUZ

更新时间： 2024-01-25 22:15:41

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亚德诺 - ADI		/
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20页	404K
描述
High Resolution 6 GHz Fractional-N Frequency Synthesizer

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ADF4157BRUZ 技术参数

是否无铅：	含铅	是否Rohs认证：	符合
生命周期：	Obsolete	零件包装代码：	TSSOP
包装说明：	TSSOP, TSSOP16,.25	针数：	16
Reach Compliance Code：	unknown	ECCN代码：	5A991.B
HTS代码：	8542.39.00.01	风险等级：	5.24
模拟集成电路 - 其他类型：	PLL FREQUENCY SYNTHESIZER	JESD-30 代码：	R-PDSO-G16
JESD-609代码：	e3	长度：	5 mm
湿度敏感等级：	1	功能数量：	1
端子数量：	16	最高工作温度：	85 °C
最低工作温度：	-40 °C	封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY
封装代码：	TSSOP	封装等效代码：	TSSOP16,.25
封装形状：	RECTANGULAR	封装形式：	SMALL OUTLINE, THIN PROFILE, SHRINK PITCH
峰值回流温度（摄氏度）：	260	电源：	3.3/5.5 V
认证状态：	Not Qualified	座面最大高度：	1.2 mm
子类别：	PLL or Frequency Synthesis Circuits	最大供电电流 (Isup)：	29 mA
最大供电电压 (Vsup)：	3.3 V	最小供电电压 (Vsup)：	2.7 V
标称供电电压 (Vsup)：	3 V	表面贴装：	YES
技术：	CMOS	温度等级：	INDUSTRIAL
端子面层：	Matte Tin (Sn)	端子形式：	GULL WING
端子节距：	0.65 mm	端子位置：	DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间：	NOT SPECIFIED	宽度：	4.4 mm

ADF4157BRUZ 数据手册

ADF4157

ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS

T_A= 25°C, GND = AGND = DGND = 0 V, V_DD= AV_DD= DV_DD, unless otherwise noted.

Table 3.

Parameter

THERMAL RESISTANCE

Rating

θ_JAis specified for the worst-case conditions, that is, a device

soldered in a circuit board for surface-mount packages.

V_DDto GND

V_DDto V_DD

V_Pto GND

V_Pto V_DD

Digital I/O Voltage to GND

Analog I/O Voltage to GND

REF_IN, RF_INto GND

Operating Temperature Range

Industrial (B Version)

Storage Temperature Range

Maximum Junction Temperature

Reflow Soldering

−0.3 V to +4 V

−0.3 V to +0.3 V

−0.3 V to +5.8 V

−0.3 V to V_DD+ 0.3 V

Table 4. Thermal Resistance

Package Type

TSSOP

LFCSP (Paddle Soldered)

θ_JA

Unit

°C/W

112

30.4

ESD CAUTION

−40°C to +85°C

−65°C to +125°C

150°C

Peak Temperature

Time at Peak Temperature

260°C

40 sec

Stresses above those listed under Absolute Maximum Ratings

may cause permanent damage to the device. This is a stress

rating only; functional operation of the device at these or any

other conditions above those indicated in the operational

section of this specification is not implied. Exposure to absolute

maximum rating conditions for extended periods may affect

device reliability.

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