AD8429

更新时间： 2024-01-24 22:05:28

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亚德诺 - ADI		/
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20页	348K
描述
Low Noise, Low Gain Drift, G = 2000

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AD8429 技术参数

是否无铅：	含铅	是否Rohs认证：	符合
生命周期：	Active	零件包装代码：	SOIC
包装说明：	SOIC-8	针数：	8
Reach Compliance Code：	compliant	ECCN代码：	EAR99
HTS代码：	8542.31.00.01	风险等级：	1.75
放大器类型：	INSTRUMENTATION AMPLIFIER	最大平均偏置电流 (IIB)：	0.15 µA
标称带宽 (3dB)：	15 MHz	最小共模抑制比：	90 dB
最大输入失调电流 (IIO)：	0.03 µA	最大输入失调电压：	50 µV
JESD-30 代码：	R-PDSO-G8	JESD-609代码：	e3
长度：	4.9 mm	湿度敏感等级：	1
负供电电压上限：	-18 V	标称负供电电压 (Vsup)：	-15 V
功能数量：	1	端子数量：	8
最高工作温度：	125 °C	最低工作温度：	-40 °C
封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY	封装代码：	SOP
封装等效代码：	SOP8,.25	封装形状：	RECTANGULAR
封装形式：	SMALL OUTLINE	峰值回流温度（摄氏度）：	260
电源：	+-15 V	认证状态：	Not Qualified
座面最大高度：	1.75 mm	标称压摆率：	22 V/us
子类别：	Instrumentation Amplifier	最大压摆率：	9 mA
供电电压上限：	18 V	标称供电电压 (Vsup)：	15 V
表面贴装：	YES	温度等级：	AUTOMOTIVE
端子面层：	Matte Tin (Sn)	端子形式：	GULL WING
端子节距：	1.27 mm	端子位置：	DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间：	30	最大电压增益：	10000
最小电压增益：	1	标称电压增益：	10
宽度：	3.9 mm	Base Number Matches：	1

AD8429 数据手册

Data Sheet

AD8428

ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS

THERMAL RESISTANCE

Table 3.

θ_JAis specified for the worst-case conditions, that is, a device

soldered in a circuit board for surface-mount packages.

Parameter

Rating

Supply Voltage

18 V

Output Short-Circuit Current Duration Indefinite

Table 4. Thermal Resistance

Maximum Voltage at −IN, +IN¹

Maximum Voltage at −FIL, +FIL

Differential Input Voltage¹

Maximum Voltage at REF

Storage Temperature Range

Specified Temperature Range

Maximum Junction Temperature

ESD

V_S

1 V

V_S

Package

θ_JA

Unit

8-Lead SOIC_N

121

°C/W

−65°C to +150°C

−40°C to +85°C

140°C

ESD CAUTION

Human Body Model

Charged Device Model

Machine Model

5000 V

1250 V

400 V

¹For voltages beyond these limits, use input protection resistors. See the

Input Protection section for more information.

Stresses above those listed under Absolute Maximum Ratings

may cause permanent damage to the device. This is a stress

rating only; functional operation of the device at these or any

other conditions above those indicated in the operational

section of this specification is not implied. Exposure to absolute

maximum rating conditions for extended periods may affect

device reliability.

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