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845254AKILF

更新时间： 2024-01-03 08:23:30

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艾迪悌 - IDT		时钟外围集成电路晶体
页数	文件大小	规格书
20页	246K
描述
FemtoClock Crystal-to-3.3V, 2.5V

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845254AKILF 技术参数

是否无铅：	不含铅	是否Rohs认证：	符合
生命周期：	Obsolete	零件包装代码：	VFQFPN
包装说明：	VFQFN-32	针数：	32
Reach Compliance Code：	compliant	ECCN代码：	EAR99
HTS代码：	8542.39.00.01	风险等级：	5.8
其他特性：	CAN ALSO OPERATES AT 2.5V SUPPLY	JESD-30 代码：	S-XQCC-N32
JESD-609代码：	e3	长度：	5 mm
湿度敏感等级：	3	端子数量：	32
最高工作温度：	85 °C	最低工作温度：	-40 °C
最大输出时钟频率：	312.5 MHz	封装主体材料：	UNSPECIFIED
封装代码：	HVQCCN	封装等效代码：	LCC32,.2SQ,20
封装形状：	SQUARE	封装形式：	CHIP CARRIER, HEAT SINK/SLUG, VERY THIN PROFILE
峰值回流温度（摄氏度）：	260	电源：	2.5/3.3 V
主时钟/晶体标称频率：	25 MHz	认证状态：	Not Qualified
座面最大高度：	1 mm	子类别：	Clock Generators
最大压摆率：	88 mA	最大供电电压：	3.465 V
最小供电电压：	3.135 V	标称供电电压：	3.3 V
表面贴装：	YES	技术：	CMOS
温度等级：	INDUSTRIAL	端子面层：	Matte Tin (Sn) - annealed
端子形式：	NO LEAD	端子节距：	0.5 mm
端子位置：	QUAD	处于峰值回流温度下的最长时间：	NOT SPECIFIED
宽度：	5 mm	uPs/uCs/外围集成电路类型：	CLOCK GENERATOR, OTHER
Base Number Matches：	1

845254AKILF 数据手册

845254 Data Sheet

FEMTOCLOCK^®CRYSTAL-TO-CML CLOCK GENERATOR

AC Characteristics

Table 6. AC Characteristics, V_DD= 3.3V±5% or 2.5V±5%, T_A= -40°C to 85°C

Symbol

Parameter

Test Conditions

Minimum

Typical

312.5

156.25

125

Maximum

Units

MHz

FBSEL = 0, FSEL[1:0] = 00

FBSEL = 0, FSEL[1:0] = 01

FBSEL = 0, FSEL[1:0] = 10

FBSEL = 0, FSEL[1:0] = 11

FBSEL = 1, FSEL[1:0] = 00

FBSEL = 1, FSEL[1:0] = 01

FBSEL = 1, FSEL[1:0] = 10

FBSEL = 1, FSEL[1:0] = 11

62.5

250

f_OUT

Output Frequency; NOTE 1

Output Skew; NOTE 1, 2, 3

125

100

tsk(o)

3.3V, f_OUT= 125MHz,

Integration Range: 1.875MHz – 20MHz

0.405

0.381

0.400

0.401

3.3V, f_OUT= 156.25MHz,

Integration Range: 1.875MHz – 20MHz

RMS Phase Jitter (Random);

NOTE 4

tjit(Ø)

2.5V, f_OUT= 125MHz,

Integration Range: 1.875MHz – 20MHz

2.5V, f_OUT= 156.25MHz,

Integration Range: 1.875MHz – 20MHz

t_R/ t_F

odc

Output Rise/Fall Time

Output Duty Cycle

20% to 80%

FSEL[1:0] = 10

FSEL[1:0]  10

250

800

NOTE: Electrical parameters are guaranteed over the specified ambient operating temperature range, which is established when the device

is mounted in a test socket with maintained transverse airflow greater than 500 lfpm. The device will meet specifications after thermal

equilibrium has been reached under these conditions.

NOTE: Characterized using an 18pF, 25MHz crystal.

NOTE 1: f_REF= 25MHz.

NOTE 2: Defined as skew between outputs at the same supply voltage and with equal load conditions. Measured at the output differential

cross points.

NOTE 3: This parameter is defined in accordance with JEDEC Standard 65.

NOTE 4: Please refer to the phase noise plots.

845254 REVISION B 08/25/15

1...3 4 567 8 9...20

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